KE2040取扱説明書Ver.2.01和文Rev.04.pdf - 第24页
1 - 6 (3) レーザ高さの定義 レーザ高さの定義 レーザ高さの定義 レーザ高さの定義 ◆レーザ計測高さ レーザセンタリングを使用した場合の計測位置を示します。 ノズルの先端からレーザ光が照射 される計測位置までをレーザ高さといいます。レーザ高さは部品データで指定します。 図 図 図 図 1-1- 2-5 レーザ測定位置の関係図 レーザ測定位置の関係図 レーザ測定位置の関係図 レーザ測定位置の関係図 ◆デフォルト値 レーザ高さは、 …
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図
図図
図 1-1-2-4
0.45
レーザアライン測定位置
レーザアライン測定位置
レーザアライン測定位置
QFP・BQFP
PLCC
電解コンデンサ
(モールド部の下面と足のつけ根の間)
(モールド部の下面と足のつけ根の間)
(部品の下面より 0.45mm の位置)
モールド部
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(3) レーザ高さの定義
レーザ高さの定義レーザ高さの定義
レーザ高さの定義
◆レーザ計測高さ
レーザセンタリングを使用した場合の計測位置を示します。ノズルの先端からレーザ光が照射
される計測位置までをレーザ高さといいます。レーザ高さは部品データで指定します。
図
図図
図 1-1-2-5
レーザ測定位置の関係図
レーザ測定位置の関係図レーザ測定位置の関係図
レーザ測定位置の関係図
◆デフォルト値
レーザ高さは、部品種別と部品高さによりデフォルト値が設定されるものがあります。下表に
部品種別とレーザ高さのデフォルト値の関係を示します。
表
表表
表 1-1-2-5
部品種別とレーザ高さのデフォルト値の関係
部品種別とレーザ高さのデフォルト値の関係部品種別とレーザ高さのデフォルト値の関係
部品種別とレーザ高さのデフォルト値の関係
部品種別
部品種別部品種別
部品種別 測定位置
測定位置測定位置
測定位置 測定高さ
測定高さ測定高さ
測定高さ(mm)
角チップ
メルフ
アルミ電解
コンデンサ
-(t - β)
β = 0.45
GaAsFET
-0.5
（続く）
ノズル
部品
レーザ光
ノズル高さ
レーザ高さ
＋Z
−Z
0
レーザ測定位置
部品高さ
t
t
-−
2
レーザ測定位置
部品高さ
t
t
-−
2
部品高さ
t
レーザ測定位置
-0.5
レーザ測定位置
部品高さ
t
β
-(t-β)
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部品種別
部品種別部品種別
部品種別 測定位置
測定位置測定位置
測定位置 測定高さ
測定高さ測定高さ
測定高さ
SOT
-γ
γ =0.25
SOP
HSOP
-0.7 × t
SOJ
-0.65 × t
QFP
-0.7 × t
QFJ(PLCC)
-0.65 × t
PQFP(BQFP)
-0.45 × t
TSOP
-0.7 × t
TSOP2
-0.7 × t
(続く)
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.7t
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-γ
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.7t
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.7t
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.45t
レーザ測定位
モールド部
部品高さ
t
-0.65t
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t
-0.7t
-0.65t
レーザ測定位置
モールド部
部品高さ
t