KE2040取扱説明書Ver.2.01和文Rev.04.pdf - 第768页
13 - 28 13-13-2. コプラナリティチェック内容 コプラナリティチェック内容 コプラナリティチェック内容 コプラナリティチェック内容 13 13 13 13- - - -1 3 13 13 13- - - -2 2 2 2- - - -1 . 1. 1. 1. コリニアリティチェック コリニアリティチェック コリニアリティチェック コリニアリティチェック リードの有る辺の、「上下方向の曲り」を検査します。 ◇ このチェックは…
13 - 27
13-13.コプラナリティの取り扱い
コプラナリティの取り扱いコプラナリティの取り扱い
コプラナリティの取り扱い
13-13-1.機能概要
機能概要機能概要
機能概要
本機は走査型レーザ変位計による電子部品のコプラナリティ検査装置です｡
走査型レーザ変位計は測定対象に照射した光スポットから反射･散乱した光を受光レンズで集
光し、ポジションセンサ上に光スポットの像を作ることにより非接触で変位を測定するもので
す。
レーザ走査方向（X 方向）と直行した方向（Y 方向）に被測定物である部品を一定速度で移動
させることにより部品の 3 次元形状測定を行い、各画素が高さ情報からなる距離画像を得ます。
◇
本機は予めマウンタより送られた部品情報をもとに､得られた距離画像から部品の良否判
定（電極の高さチェック）を行います。
図
図図
図 13-13-1 機能概要図
機能概要図機能概要図
機能概要図
図
図図
図 13-13-2 装置外観図
装置外観図装置外観図
装置外観図
ポリゴンミラー
ポリゴンミラーポリゴンミラー
ポリゴンミラー
レーザビーム
レーザビームレーザビーム
レーザビーム
コプラナリティ
コプラナリティコプラナリティ
コプラナリティ
センサ
センサセンサ
センサ
ATC ユニット
ユニットユニット
ユニット
13 - 28
13-13-2.コプラナリティチェック内容
コプラナリティチェック内容コプラナリティチェック内容
コプラナリティチェック内容
13
1313
13-
--
-13
1313
13-
--
-2
22
2-
--
-1.
1.1.
1.コリニアリティチェック
コリニアリティチェックコリニアリティチェック
コリニアリティチェック
リードの有る辺の、「上下方向の曲り」を検査します。
◇ このチェックは、『 1回の走査 』で行います。
例えば、“QFP 等の 4 辺素子は 4 辺”、“SOP 等の 2 辺素子は 2 辺”の各辺を、
１回の走査で検査を行います。
図
図図
図 13-13-2-1 部品検査の説明
部品検査の説明部品検査の説明
部品検査の説明
計測ライン
計測ライン計測ライン
計測ライン
リード下方向曲り
リード下方向曲りリード下方向曲り
リード下方向曲り
検査素子
検査素子検査素子
検査素子
L
・コリニアリティとは平行性を意味します。
・コリニアリティは、リード部品のみに適用します。
13 - 29
13
1313
13-
--
-13
1313
13-
--
-2
22
2-
--
-2.
2.2.
2.コプラナリティチェック
コプラナリティチェックコプラナリティチェック
コプラナリティチェック
コプラナリティを求める方法として、二通りが有ります。
QFP/SOPはEIAJに定める方法、あるいは最小二乗法によりコプラナリティ(端子最下面の均一性)
を求めることが可能です。
■ 出荷時の設定は、EIAJ に定める方法となっております。設定の変更は、マシンセットアップ
にて可能です。
QFP は EIAJED-7401-4、SOP は EIAJED-7304-1 あるいは最小二乗法によります。
ボール部品は、EIAJED-7304 によります。
EIAJ に定める方法は、仮想平面より全ての端子の最下点までの鉛直方向距離のばらつきのう
ち、最も離れた端子の最下点までの距離をコプラナリティの値とします。
◆ 3 点法におけるリード部品のコプラナリティ（EIAJ に定める方法：デフォルト）
任意の 3 本の端子の最下点を通る幾何学平面のうち、他の端子の最下点が全てパッケー
ジ本体側に存在し、その 3 点で構成された三角形の内部または辺上にパッケージの重心
が含まれる平面です。
但し、自重の影響は受けません。上記条件を満足する組合せが、複数存在する場合、コ
プラナリティの値が大きくなる組み合わせを採用します。
図
図図
図 13-13-2-2 ３点法
３点法３点法
３点法による
によるによる
によるコプラナリティの算出
コプラナリティの算出コプラナリティの算出
コプラナリティの算出
最下点により求められた平面
最下点により求められた平面最下点により求められた平面
最下点により求められた平面