SM431_Administrators_Guide(Chi_Ver2).pdf - 第122页
6-32 Samsung Componen t Placer SM431 Administrator’s Guide 示教临近的坏标记的位置。 示教完后 按下 ” 输入 ” 键时， 显示以下画面。 按 “Enter” 按钮完成 Bad Mark 的 Offset 设置。 < 应用 > 按钮 利用在此领域设定的偏移量值， 自动 生成坏标记的位置数据。 <7. Mark Size> 领域 设定需检查坏标记的领…
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Board
定义
1R-基准相机2: 选择后面Gantry的fiducial照相机2。
<移动> 按钮
<装置 >Selection control中选择的对象移动到指定的坐标位置。运行“Move”
按钮之前，先要用鼠标单击需要移动的位置的坐标值对应的Grid 领域 (Bad
Mark的坐标)。
<得到数据> 按钮
以<装置 > Selection control中选择的对象为基准获取 X,Y 坐标。
<标记移动> , 按钮
依次把对应Fiducial照相机移动到已设置的 Bad Mark的位置。
<5. 标记型号> 领域
选择坏标记的颜色。可选择的坏标记的颜色如下。
黑色: 标记比周边暗的情况。
白色: 标记比周边亮的情况。
<6. Offset> 领域
它在自动设定各Bad Mark之间的偏移量值时使用。 在<2.识别类型>组合框选择
时被激活。各自示教第1个和第2个Bad Mark位置后设置Offset值。
<X> 编辑框
设定X轴向偏移量。
<Y> 编辑框
设定Y轴向偏移量。
<示教> 按钮
示教Ba
d
Mark偏移。 此按钮示教 Bad Mark的偏移量。按下此按钮时依次显
示以下画面。
示教第1个坏标记的位置。示教完后按下” 输入”键时，显示以下画面。
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Samsung Component Placer SM431 Administrator’s Guide
示教临近的坏标记的位置。示教完后按下”输入”键时，显示以下画面。
按“Enter”按钮完成Bad Mark的Offset设置。
<应用> 按钮
利用在此领域设定的偏移量值，自动生成坏标记的位置数据。
<7. Mark Size> 领域
设定需检查坏标记的领域。它的主要使用目的为在一些特殊的PCB的周围有类
似标记的形状而防碍识别时，限定其检查范围。
<宽度X> 编辑框
设定X 轴的方向的检查范围。一般设定为6 mm。
<宽度Y> 编辑框
设定Y 轴的方向的检查范围。一般设定为6 mm。
<8. 参数> 领域
<门槛> 编辑框
通过’SMVisionQ’窗口显示的影象由各个像素构成。各个像素因显示亮度不
同，有 0~255的固有值。
设置检查Bad Mark时借以判断图像像素为黑(Black)或白(White)的临界值。
例如，<Bad Mark>设置为”Black”时，如果<Threshold>值为100，则Vision
Image中100以下的值全部被识别为Black；<Bad Mark>设置为”White”时，
如果<Threshold>值为100，则Vision Image中10
0以上
的值全部被识别为
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Board
定义
White
<灰度预览> 按钮
通过’SMVisionQ’窗口显示的影象显示成实际肉眼可看到的、尚未适用
Threshold的影象(Real Display) 或 MMI识别的、适用Threshold的影象
(Binary)。
<亮度调整> 领域
设定检查坏标记时的照明度。一般设定为7。实际的使用当中，根据PCB和
坏标记的状态可以适当调整照明度。
<测试> 按钮
利用已设定的标记的数据检查标记。通过它可以确认设定值是否正确。成功地
结束检查后显示以下的信息框。检查失败时，显示以下的信息框。
<更新> 按钮
储存坏标记的数据后，关闭”坏点位置”对话框。坏点位置
<取消> 按钮
不储存坏标记的数据直接关闭 ”坏点位置”对话框。