SM431_Administrators_Guide(Chi_Ver2).pdf - 第171页
7-31 元件的登记 < 真空 开 / 关 > 按钮 为了在吸嘴末端吸附或脱着部件 , ON/OFF 该相应磁头的 Va c u u m 。 < 测试 > 按钮 利用已设定的排列数据测试部品的 识别动作。 成功地完成测试后显示如下 的信 息框。 测试失败时, 显示以下的信息框。 < 自动校正 > 按钮 自动阶段性地变换部件形象, 并保存形 象, 用户确认其中识别最好的形象照明 值进行保存,…

7-30
Samsung Component Placer SM431 Administrator’s Guide
<移动控制> 按钮
用于手动吸附部件进行部件识别检验。点击此按钮则显示如下对话框。
<装置> Selection control
选择使用在部件识别的摄象机。
部件编辑对话框的<相机号.>组合框中设置为 “基准相机” 时,<装置
>Selection control非激化。(各基准相机相应的磁头设置为默认)
选择了“固定相机”后才能选择Head。
<对准Z高度> 编辑框
设定需要识别的高度。以部品的底面为准,识别其上面时设定‘–’值,识别其
下面时设定‘+’值。
<动作> 领域
<准备手动吸取> 按钮
为了手动把部件吸附在插入到 Spindle的Nozzle Holder的Nozzle端头,把
Head Assembly移动至Home位置。此时,符合吸附部件的Nozzle应安装
在Head上。
<准备校正测试> 按钮
准备部件识别测试。识别部件的照相机为 “基准相机”时,插入在Spinder
的Nozzle Holder上的Nozzle的端头Z轴高度移动至识别部件高度(Align
Height)后关
闭Mirr
or并照射照明。
识别部件的照相机为“固定相机”时,插入在Spinder的Nozzle Holder上
的Nozzle的端头Z轴高度移动至安全高度后,Head Assembly移动到Fix
照相机的位置并Nozzle的Z轴高度移动至识别部件高度(Align Height)
位置。

7-31
元件的登记
<真空 开/关> 按钮
为了在吸嘴末端吸附或脱着部件,ON/OFF该相应磁头的Va cu um。
<测试> 按钮
利用已设定的排列数据测试部品的识别动作。成功地完成测试后显示如下的信
息框。
测试失败时,显示以下的信息框。
<自动校正> 按钮
自动阶段性地变换部件形象,并保存形象,用户确认其中识别最好的形象照明
值进行保存,帮助保存最佳照明值。
Chip-R, Chip-C, TR, TR2, SOP, SOP2, SOJ, SOJ2, QFP, PLCC, BGA, Flip-Chip等部
品进行。

7-32
Samsung Component Placer SM431 Administrator’s Guide
图
7.8 “Auto Teach the selected part-Good”
对话框
<结果>领域
显示Auto Teach成功与否。
<更新> 按钮
保存用Auto Teach求出的部件 Align数据,关闭对话框。
<取消> 按钮
忽略用Auto Teach求出的部件 Align 数据,关闭对话框。
<5.校正 - 视觉校正(BGA)> 领域
显示 Auto Teach结果数据。 Auto Teach失败则显示如下消息框。
图
7.9 “Auto Teach the selected part-Bad”
对话框
<抓取图像> 按钮