00191504-01.pdf - 第350页
5.V izuális funkci ók Has ználati utas ítás a SIPL ACE 80S-20/F4/F4-6/F 5 tipus hoz 5.7 Útm ut ató a h ázform ák leír ásához 98/03 -as kiad ás az SR.404.x x szoftv erverz iótól 5-126 – Amenn yiben az elemek 32 mm x 32 mm…
Használati utasítás a SIPLACE 80S-20/F4/F4-6/F5 tipushoz 5.Vizuális funkciók
98/03-as kiadás az SR.404.xx szoftververziótól 5.7 Útmutató a házformák leírásához
5-125
)HOpStWpVLIRUPiNpVOHKHWVpJHVPpUpVLPyGV]HUHNDQDJ\pVD
ILQRPFHQWUtUR]iVKR]
7iEOi]DW $]HOHPHNPpUpVLPyGV]HUHL
*) LEAD kombinált értékelési ablakokkal minden PIN-sor számára, helyettesíti a CORNER-
mérési módszert. A megoszlás mérését a "normázott" lábacska eltérés mérésével pótoljuk.
Amennyiben egy van több mérési érték a tolerancián kívül esik, akkor
az elem nem kerül beültetésre
Amennyiben az elem korrekt módon kerül centrírozásra,akkor feleslegessé válik a
kiegészítõ mérési módszer. Mégis végezzük nagy vonalakban a centrírozási lépéseket, mert
ezek a mérési ablakot kicsinyítik.
– Az "Elemtesztelés menüben" az optikai elem centrírozás az "Elem vizsgálat" funkción
keresztül történik az egyes mérési lépéseknél a mérési eredmények megadása nélkül.
– az "Elem-tesztelés" menüben az elemek optikai centrírozása az "Elem-mérés" funkción
keresztül kerül kivitelezésre a minden mérési lépésnél a mérési eredmények kiadásával.
PDC lábacska nélkül G/F –X, –Y,(––), Elem
hosszúság, szélesség
(minõség)
PDC kereken leké-
pezve
G/F Szög tolerancia
Kis FDC, pl.
2 lábacska
G/F –X, –Y,(––), Elem
hosszúság, szélesség
(minõség)
FDC rövid PIN-sorral
szabályozva
G F (F) Maximális eltérés a
megoszlásnál
–X, –Y,(––)(minõség)
FDC hosszú PIN-sor-
ral szabályos
G F (F) Maximális eltérés a
megoszlásnál
–X, –Y,(––)(minõség)
FDC szabálytalan
rövid PIN-sorral
G (G) F (F) –X, –Y, a PIN-nek száma
(minõség) A megoszlás
maximális eltérése
FDC szabálytalan
hosszú PIN-sorral
G (G) F (F) –X, –Y, a PIN-nek száma
(minõség) A megoszlás
maximális eltérése
FDC szabálytalan egy
PIN sorral, több PIN-
modellel vagy megos-
zlásában
G G F –X, –Y,(––),normázott lá-
bacska eltérés (minõség)
a PIN-nek száma
szekunder offset
FDC-k kör szegmens
formájú PIN-elren-
dezéssel
(G) G F –X, –Y,(––),normázott lá-
bacska eltérés (minõség)
a PIN-nek száma
szekunder offset
BGA, Flip-Chip G G F –X, –Y,(––), megoszlás,
szög, minõség
5.Vizuális funkciók Használati utasítás a SIPLACE 80S-20/F4/F4-6/F5 tipushoz
5.7 Útmutató a házformák leírásához 98/03-as kiadás az SR.404.xx szoftververziótól
5-126
– Amennyiben az elemek 32 mm x 32 mm-nél nagyobbak,akkor automatikusan megtörténik
a többszöri mérés a vizuális rendszerben.
+i]IRUPDWHV]WHOpVRSWLNDLiEUi]ROiVPpUpVLPyGSURJUDPR]iV
Az "Elem-tesztelés" menüben az érkeztetett elem 0°-os helyzetébe kerül a kamerához
képest és az leképezi az elemet. Az S-20/F
4
/F
4
-6/F
5
revolverfején az elemet a beültetési
szög alapján ábrázoljuk.
iEUD 6 RUUHQG DKRJ\D]iOORPiVRQDKi]IRUPiWSURJUDPR] QLNHOO
Használati utasítás a SIPLACE 80S-20/F4/F4-6/F5 tipushoz 5.Vizuális funkciók
98/03-as kiadás az SR.404.xx szoftververziótól 5.7 Útmutató a házformák leírásához
5-127
$PpUpVLPyGV]HUHNSDUDPpWHUHL
A mérési módszerek lehetséges szekvenciái
7iEOi]DW $PpUpVLPyGV]HUHNOHKHWVpJHVV]HNYHQFLiL
Lehetõség van arra, hogy más szekvenciákat programozzunk, mint pl. a Corner-t, utána a
Lead-ot, vagy csak Lead-ot. Az ilyen kombinációk azonban nagyon szokatlanok. Amenny-
iben az elem a Házforma Editorban definiált, akkor a mérési módszerek már elõre
meghatározottak. Néhány esetben azonban szükség lehet rá, hogy a mérési módszereket
az állomáson módosítsuk, hogy az elem optikailag centrírozhatóvá váljék.
Utolsó mérés mérési eredményei mindig tárolásra kerülnek. Az elõtte végrehajtott mérés
egy nagy vonalakban megtett centrírozó lépés a következõ mérés számára és így a mérési
ablak kicsinyítésére szolgál.
Minél több mérési módszert alkalmazunk, annál hosszabb ideig tart az egész mérési eljárás.
Egy elemmel kapcsolatos sok mérési módszer a fej-ciklus elhúzódásához vezethet. Ez
különösen érvényes SIPLACE 80S, F
4
, F
4
-6 és F
5
- automaták revolverfeje számára.