00191504-01.pdf - 第380页

5.V izuális funkci ók Has ználati utas ítás a SIPL ACE 80S-20/F4/F4-6/F 5 tipus hoz 5.9 Márka teac hing: Kieg észít és a 80F 4 , 80F 4 -6, 98/03-as kiad ás az SR .404.xx s zoftverv erziót ól ill. az F 5 automatá k számra…

100%1 / 730
Használati utasítás a SIPLACE 80S-20/F4/F4-6/F5 tipushoz 5.Vizuális funkciók
98/03-as kiadás az SR.404.xx szoftververziótól 5.9 Márka teaching: Kiegészítés a 80F
4
,
80F
4
-6, ill. az F
5
automaták számra
5-155
 0iUNDWHDFKLQJ.LHJpV]tWpVD)
)
LOOD]
)
DXWRPDWiNV]iPUD
A 80F
4
, 80F
4
-6, ill. az F
5
beültetõ automaták a 80S-20 automatákkal szemben egyportálos
gépek. Ezért a "Jelölés teaching" menüben a "Portál-kiválasztás" opció az "1-es portállal"
rögzítetten megadott. A "2-es portál" opcióra nem lehet ráklikkelni.
Mind a 80F
4
-es 12-es revolverbeültetõ feje, mind a 80F
4
-6, ill. az F
5
6-os revolverfej beültetõ
feje, mint pedig az IC-beültetõfej a portálra került felszerelésre. A portál alatt helyezkedik el
a kamera rendszer, a nyáklap centrírozás számára.
Minden menü ennek az opciónak a kivételével azonos a 80S-20-automatáéval.
A menü és opcióinak a leírása az 5.5. részben található az 5-43. oldalon.
iEUD -HO|OpVNLYiODV]WiVPHQ3RUWiONLYiODV]WiVRSFLy
5.Vizuális funkciók Használati utasítás a SIPLACE 80S-20/F4/F4-6/F5 tipushoz
5.9 Márka teaching: Kiegészítés a 80F
4
, 80F
4
-6, 98/03-as kiadás az SR.404.xx szoftververziótól
ill. az F
5
automaták számra
5-156
Használati utasítás a SIPLACE 80S-20/F4/F4-6/F5 tipushoz 5.Vizuális funkciók
98/03-as kiadás az SR.404.xx szoftververziótól 5.10 Elemek tesztelése: Kiegészítés a 80F4,
80F4-6, ill. az F5-automaták számára
5-157
 (OHPHNWHV]WHOpVH.LHJpV]tWpVD) ) LOOD]
)
DXWRPDWiNV]iPiUD
A 80F
4
, 80F
4
-6, ill. az F
5
-automatákon lehetõségünk van arra, hogy a Fine-Pitch-elemeket
55 mm-es maximális szélhosszúságig az IC-kamerával optikailag centrírozzuk. A 32 mm-
tõl terjedõ szélhosszúságú elemeknél a többszörös mérés kerül alkalmazásra. Ezen kívül
az IC-kamerával még a BGA-kat is tudjuk optikailag centrírozni.
A többszörös mérésre mindig akkor kerül sor, hogy ha az “Elem-mérés”, vagy az “Elem-
vizsgálat” opciókat hívjuk le.
A többszörös mérés számára a következõ feltételek érvényesek:
1. A végrehajtandó mérések számát az MVS-rendszer egy megfelelõ algoritmus alapján
adja meg. Ebben az algoritmusban például benne vannak az elem nagyság és a toler-
ancia értékek.
2. Az MVS-rendszerben a különbözõ mérési módszerek kombinációja került rögzítésre. A
kombinációkat és a hex-paramétereket nem tudjuk megváltoztatni.
Az FC-kamerával a Fine-Pitch-elemeket és a Flip-Chippeket optikailag tudjuk centrírozni.
A BGA-k, Flip-Chippek és ezek mérési módszereinek magyarázatait és definícióit lásd az
5.6.4.4. részben, 5 - 88. oldalon.
A Ball-modell leírással kapcsolatos információkat az 5.6.1.11 részben találjuk az 5 - 104.
oldalon.
A “Mérési modus változtatás” menüben (lásd 5.6.4.13. rész, 5 - 106. oldal)lehetõségünk
van arra, hogy különbözõ mérési módszereket válasszunk ki, aktiváljunk és a hozzá tartozó
mérési paraméter értékeket megváltoztassuk.
%L]WRQViJLXWDOiVRND]HOHPYL]XiOLVUHQGV]HUUHONDSFVRODWEDQD) ) LOOD])
DXWRPDWiNQiO
VESZÉLY
A 80F
4
, 80F
4
-6, ill. az F
5
-automaták biztonsági berendezésein, vagy az IC- ill. Flip-Chip-
modulokon semmiféle változtatást vagy manipulációt nem szabad megtenni!
Az IC, ill. Flip-Chip-kamerák optikai sugárzása az 1. Lézerosztálynak felel meg, amíg a
kamerák rögzítetten installáltak az automatán és a védõtetõ zárva van (EN 60825-1, ill. IEC
825).
ÈEUD $]/p]HURV]WiO\MHOH