SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第193页
3D AOI Programming Manual 第 2 部分 检验数据 II- 157 3.5 检验参数（算法扩展） Algorithm Expansion（算法扩展）是对打开的检验数据的样品数值以及算法参数的 OK Range（良品范围） 进行更新的功能。Rect Align（长方形位置）、Chip Align（片状元件位置）和Lead Tip Black White （引脚尖端黑白）的OK range（良品范围）的默认值指定为I…
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第 2 部分 检验数据
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3.4.2 导入赛凯标准格式数据
第1步： 从InspectData（检验数据）选项卡中选择Layout（布局）组 > Import Layout（导入布
局） > SAKI standard format data（赛凯标准格式数据）。
图 3-67 导入布局
第2步： 显示以下对话框。
选择赛凯标准格式数据，然后点击Open（打开）。
图 3-68 导入赛凯标准格式数据 1
第3步： 从InspectData（检验数据）选项卡中选择Library（检验库）组 > Library Expansion（检
验库扩展） > Assign Library Management（分配库管理）。
图 3-69 导入赛凯标准格式数据 2
第4步： 参考1.12.4 清除分配的形状和1.12.5 生成检查参数进行设置。
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第 2 部分 检验数据
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3.5 检验参数（算法扩展）
Algorithm Expansion（算法扩展）是对打开的检验数据的样品数值以及算法参数的 OK Range（良品范围）
进行更新的功能。Rect Align（长方形位置）、Chip Align（片状元件位置）和Lead Tip Black White
（引脚尖端黑白）的OK range（良品范围）的默认值指定为IPC Class1（IPC 1级）、IPC Class2（IPC 2
级）和IPC Class3（IPC 3级）。
Algorithm
（算法）
Sample value
（样本值）
IPC Class 1
（IPC 1 级）
IPC Class 2
（IPC 2 级）
IPC Class 3
（IPC 3 级）
Rect Align
（长方形位置）
侧面偏移
0 至 50% 0 至 50% 0 至 25%
末端偏移
0μm 0μm 0μm
Chip Align
（片状元件位置）
侧面偏移
0 至 50% 0 至 50% 0 至 25%
末端偏移
0μm 0μm 0μm
Lead Tip Black White
（引脚尖端黑白）
脚侧偏移
0 至 50% 0 至 50% 0 至 25%
引脚前端偏移
0μm 0μm 0μm
表 3-5 说明
3.5.1 算法扩展程序
第1步： 从InspectData（检验数据）选项卡中选择Inspection parameters（检验参数）组 >
Algorithm expansion（算法扩展），然后勾选项目，更新设置。更新打开的检验数据的算
法所用的检验参数。
图 3-70 算法扩展程序
3.5.2 算法扩展的用户设置
第1步： 从InspectData（检验数据）选项卡中选择Inspection parameters（检验参数）组 >
Algorithm expansion（算法扩展） > Settings management（设置管理）。
图 3-71 用户设置 1
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第 2 部分 检验数据
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第2步： 显示以下对话框。点击 （新建）。
图 3-72 用户设置 2
第3步： 显示以下对话框。
输入算法扩展的设置名称，然后点击OK（好）。
图 3-73 用户设置 3
第4步： 从下拉菜单选择新建的设置。
如需删除设置，则点击 （删除）。
IPC Class1（IPC 1级）、IPC Class2（IPC 2级）和IPC Class3（IPC 3级）无法删
除。
图 3-74 用户设置 4