SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第338页
3D AOI Programming Manual 第 3 部分 检验算法 III- 38 1.10.3 设置步骤 第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择LW Tracking（XY搜索）。 第2步： 选择可以使元件能够清晰显示在Image filter（图像过滤器）下拉列表中的灯光。 第3步： 将检测窗口调整至包围该元件。 图 1-41 调整检测窗口 第4步： 检查Search Contrast（搜索对比度）和Searc…
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第 3 部分 检验算法
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1.10 LW Tracking（XY搜索）
1.10.1 检验概述
LW Tracking（XY搜索）算法可根据电路板和元件之间的亮度差，自动检测元件边缘，并计算出已检
测元件与检测窗口的中心之间的距离（X和Y坐标）。
LW Tracking（XY搜索）适用于调整错位。
1.10.2 参数设置
图 1-40 对话框 （Version 0.0.0.1）
参数 说明
Image filter
（图像过滤器）
选择一种能清晰地显示元件的灯。
Search Contrast
（搜索对比度）
当搜索元件边缘时，选择Dark -> Bright（暗 -> 亮）检测由暗变亮的边缘或选择
Bright -> Dark（亮 -> 暗）检测由亮变暗的边缘。
Search Direction
（搜索方向）
选择None（无），沿检测窗口的左边缘至右边缘或沿窗口的上边缘至下边缘搜索边
缘。
选择Out -> In（外 -> 内）可沿检测窗口方向搜索外侧边缘，选择In -> Out（内 ->
外）可从中心向外部搜索。
Output（输出） 选择XY检测在XY方向上的偏移量，或仅设置X或Y以检测单个方向上的偏移量。
表 1-22 参数
参数 说明
Length X（长度X） 指定X轴方向上可接受的长度。
Length Y（长度Y） 指定Y轴方向上可接受的长度。
Shift
（偏移）
X: -μm 规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的X轴距离的可接受范围。
Y: -μm 规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的Y轴距离的可接受范围。
R: -deg 不可用。由于该算法未检测旋转量，因此始终设置为0。在默认值下使用良品范围。
表 1-23 良品范围设置
如果在Result type（结果类型）的OK Range（良品范围）内选择了多个项目，检测
到其中一个所选结果类型时，检验结果成为OK。
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第 3 部分 检验算法
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1.10.3 设置步骤
第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择LW Tracking（XY搜索）。
第2步： 选择可以使元件能够清晰显示在Image filter（图像过滤器）下拉列表中的灯光。
第3步： 将检测窗口调整至包围该元件。
图 1-41 调整检测窗口
第4步： 检查Search Contrast（搜索对比度）和Search Direction（搜索方向）的值。
第5步： 点击
图标，并检查是否检测到元件。
已检测到的边缘使用蓝线表示，元件中心位置使用蓝色十字线表示。
图 1-42 检测元件
第6步： 若要与其他检测窗口共享使用该算法检测的偏移信息，请选中Parameter Editor（参数编
辑器）上的Shift（偏移），然后左键点击弹出菜单中的Body Shift（本体偏移）。随后，
参考第2部分 1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口调整检测窗口。
第7步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并设置NG Type（NG类型）。
如果未执行该检查操作，请取消选中该项目。
第8步： 点击 图标，并检查检验是否顺利完成。
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第 3 部分 检验算法
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1.11 ShiftDispatcher（偏位综合）
1.11.1 检验概述
ShiftDispatcher（偏位综合）是指用于确定在使用多个对齐算法时要使用的补偿信息的优先级顺序
的算法。
通过ShiftDispatcher（偏位综合）设置的对齐算法检测窗口将自动设置为OR组，如果组中有多个检
测窗口为OK，则整个组的检验结果将被设置为OK。
如果最高优先级算法的检查结果为NG，第二优先级算法为OK，第二优先算法的偏移信息将作为其他
窗口的校正依据。
1.11.2 参数设置
图 1-43 对话框 （Version 0.0.0.1）
参数 说明
Shift
（偏移）
X: -μm 规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的X轴距离的可接受范围。
Y: -μm 规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的Y轴距离的可接受范围。
R: -deg 规定了被测元件的实装角度的可接受范围。顺时针提高角度值和逆时针降低角度值。
表 1-24 良品范围设置