SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第345页
3D AOI Programming Manual 第 3 部分 检验算法 III- 45 第3步： 点击 图标，并检查是否检测到元件。 计算元件高度和X轴与Y轴的倾斜度。 检测窗口的检验目标区域显示为绿色。 图 2-5 检测元件 第4步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并设置NG Type（NG类型）。 如果未执行该检查操作，请取消选中该项目。 第5步： 点击 图标，并检查检验是否顺利完成。
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第 3 部分 检验算法
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2.1.3 设置步骤
第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择Find Plane（找平面）。
如需通过其他算法使用相同的偏移信息，请在Shift Reference（偏移参考）的下拉
菜单中选择Body Shift（本体偏移）。
第2步： 如果在选项中选择查找
将检测窗口调整至与该元件尺寸相匹配。
图 2-3 调整检测窗口 1
如果在选项中选择全部
将检测窗口调整至与元件的平面相匹配。
图 2-4 调整检测窗口 2
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第 3 部分 检验算法
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45
第3步： 点击 图标，并检查是否检测到元件。
计算元件高度和X轴与Y轴的倾斜度。
检测窗口的检验目标区域显示为绿色。
图 2-5 检测元件
第4步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并设置NG Type（NG类型）。
如果未执行该检查操作，请取消选中该项目。
第5步： 点击 图标，并检查检验是否顺利完成。
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第 3 部分 检验算法
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2.2 Height Difference（高度差）
2.2.1 检验概述
Height difference（高度差）算法用于计算检测窗口平面上两点之间的高度差。
Height difference（高度差）适用于IC元件翘起的引脚。
2.2.2 参数设置
图 2-6 对话框 （Version 0.0.0.1）