SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第335页
3D AOI Programming Manual 第 3 部分 检验算法 III- 35 1.9.3 设置步骤 第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择Chip Align（片状元件位置）。 第2步： 从Length Search Image（长度搜索图像）下拉列表中选择可以使电极能够清晰显示的灯 光。 第3步： 将检测窗口调整至包围该元件。 图 1-38 调整检测窗口 第4步： 检查Length Search Upper…
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第 3 部分 检验算法
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参数 说明
Shift
（偏移）
X: -μm
规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的X轴距离的可接受范围。
仅可在没有焊盘信息时设置此项。
Y: -μm
规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的Y轴距离的可接受范围。
仅可在没有焊盘信息时设置此项。
R: -deg
规定了被测元件的实装角度的可接受范围。
顺时针提高角度值和逆时针降低角度值。
仅可在没有焊盘信息时设置此项。
Result type
（结果类型）
Found
（找到）
检测到元件时检验结果是OK。
Not Found
（未找到）
未检测到元件时检验结果变成OK。
Side Overhang[%]
（侧面偏移[%]）
仅可在没有焊盘信息时设置。
如果焊盘的宽度小于电极的宽度，则计算A / P x 100[%]。
如果焊盘的宽度大于电极的宽度，则计算A / W x 100[%]。
如果计算结果为25％或更高，则将其识别为NG。
W
A
P
图 1-36 侧面偏移
End Overhang[μm]
（末端偏移[μm]）
仅可在没有焊盘信息时设置。
计算A值。
即使片状元件尖端只是突出了焊盘一点点，也将其识别为NG。
A
图 1-37 末端偏移
表 1-21 良品范围设置
如果在Result type（结果类型）的OK Range（良品范围）内选择了多个项目，检测
到其中一个所选结果类型时，检验结果成为OK。
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第 3 部分 检验算法
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1.9.3 设置步骤
第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择Chip Align（片状元件位置）。
第2步： 从Length Search Image（长度搜索图像）下拉列表中选择可以使电极能够清晰显示的灯
光。
第3步： 将检测窗口调整至包围该元件。
图 1-38 调整检测窗口
第4步： 检查Length Search Upper（长度搜索上限）和Length Search Lower（长度搜索下限）值。
设置数值，以便根据元件电极及其周围物件的亮度阈值检测到电极。
第5步： 点击Element size（元素尺寸）。
当元件本体宽度和电极宽度不同时，勾选Electrode（电极）选项卡的Use Electrode
Size to Overhang inspection（使用电极尺寸进行偏移检验），然后点击Acquire
size of electrode（从元素获取电极尺寸）。
第6步： 点击 图标，并检查是否检测到元件。
检测到的元件用粉红色圆形显示。
如果无法检测到元件，调整Lower Height Threshold（高度阈值下限）的数值。
将Lower Height Threshold（高度阈值下限）设置为低于元件的高度但高于焊锡的
高度。
图 1-39 检测元件
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第 3 部分 检验算法
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第7步： 若要与其他检测窗口共享使用该算法检测的偏移信息，请选中Parameter Editor（参数编
辑器）上的Shift（偏移），然后左键点击弹出菜单中的Body Shift（本体偏移）。随后，
参考第2部分 1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口调整检测窗口。
第8步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并设置NG Type（NG类型）。
如果未执行该检查操作，请取消选中该项目。
第9步： 点击 图标，并检查检验是否顺利完成。