SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第336页
3D AOI Programming Manual 第 3 部分 检验算法 III- 36 第7步： 若要与其他检测窗口共享使用该算法检测的偏移信息，请选中Parameter Editor（参数编 辑器）上的Shift（偏移），然后左键点击弹出菜单中的Body Shift（本体偏移）。随后， 参考第2部分 1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口调整检测窗口。 第8步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并…
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第 3 部分 检验算法
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1.9.3 设置步骤
第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择Chip Align（片状元件位置）。
第2步： 从Length Search Image（长度搜索图像）下拉列表中选择可以使电极能够清晰显示的灯
光。
第3步： 将检测窗口调整至包围该元件。
图 1-38 调整检测窗口
第4步： 检查Length Search Upper（长度搜索上限）和Length Search Lower（长度搜索下限）值。
设置数值，以便根据元件电极及其周围物件的亮度阈值检测到电极。
第5步： 点击Element size（元素尺寸）。
当元件本体宽度和电极宽度不同时，勾选Electrode（电极）选项卡的Use Electrode
Size to Overhang inspection（使用电极尺寸进行偏移检验），然后点击Acquire
size of electrode（从元素获取电极尺寸）。
第6步： 点击 图标，并检查是否检测到元件。
检测到的元件用粉红色圆形显示。
如果无法检测到元件，调整Lower Height Threshold（高度阈值下限）的数值。
将Lower Height Threshold（高度阈值下限）设置为低于元件的高度但高于焊锡的
高度。
图 1-39 检测元件
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第 3 部分 检验算法
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第7步： 若要与其他检测窗口共享使用该算法检测的偏移信息，请选中Parameter Editor（参数编
辑器）上的Shift（偏移），然后左键点击弹出菜单中的Body Shift（本体偏移）。随后，
参考第2部分 1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口调整检测窗口。
第8步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并设置NG Type（NG类型）。
如果未执行该检查操作，请取消选中该项目。
第9步： 点击 图标，并检查检验是否顺利完成。
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第 3 部分 检验算法
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1.10 LW Tracking（XY搜索）
1.10.1 检验概述
LW Tracking（XY搜索）算法可根据电路板和元件之间的亮度差，自动检测元件边缘，并计算出已检
测元件与检测窗口的中心之间的距离（X和Y坐标）。
LW Tracking（XY搜索）适用于调整错位。
1.10.2 参数设置
图 1-40 对话框 （Version 0.0.0.1）
参数 说明
Image filter
（图像过滤器）
选择一种能清晰地显示元件的灯。
Search Contrast
（搜索对比度）
当搜索元件边缘时，选择Dark -> Bright（暗 -> 亮）检测由暗变亮的边缘或选择
Bright -> Dark（亮 -> 暗）检测由亮变暗的边缘。
Search Direction
（搜索方向）
选择None（无），沿检测窗口的左边缘至右边缘或沿窗口的上边缘至下边缘搜索边
缘。
选择Out -> In（外 -> 内）可沿检测窗口方向搜索外侧边缘，选择In -> Out（内 ->
外）可从中心向外部搜索。
Output（输出） 选择XY检测在XY方向上的偏移量，或仅设置X或Y以检测单个方向上的偏移量。
表 1-22 参数
参数 说明
Length X（长度X） 指定X轴方向上可接受的长度。
Length Y（长度Y） 指定Y轴方向上可接受的长度。
Shift
（偏移）
X: -μm 规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的X轴距离的可接受范围。
Y: -μm 规定了检测到元件的中心和检测窗口的中心之间的Y轴距离的可接受范围。
R: -deg 不可用。由于该算法未检测旋转量，因此始终设置为0。在默认值下使用良品范围。
表 1-23 良品范围设置
如果在Result type（结果类型）的OK Range（良品范围）内选择了多个项目，检测
到其中一个所选结果类型时，检验结果成为OK。