SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D(中文版) (1).pdf - 第296页
II- 260 3D AOI Programming Manual 第 2 部分 检验数据 项目 说明 Image(图像) 选择下述中用于Height Threshold_Top[μm](高度阈值_顶部[μm])和Height Threshold_ Bottom[μm](高度阈值_底部[μm])的2D图像。 选择透过通孔以及比检测目标有更高亮度值的焊锡的图像。默认值为Top(顶部)。 Resolution (分辨率) 指定检验分辨率。 …

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3D AOI Programming Manual
第 2 部分 检验数据
10.6 ECD算法设置(高度Ecd)
HeightEcd(高度Ecd)是ECD的算法,用于检测ECD区域高于特定高度的区域。
该算法适用于高度复杂环境下的少量电路板的情况。
这种算法也适用于与电路板颜色相似的元件。
因为这种算法用高度信息检测误放元件。
10.6.1 参数设置
样本参数
图 10-23 样本参数
项目 说明
ImageOutput(图像输出)
只有Saki工程师才能修改此项。不要随意修改此设置。
默认设置为False(误判)。
表 10-9 说明
检测&检验参数
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图 10-24 检测和检验参数(1.0.0.0版)

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第 2 部分 检验数据
项目 说明
Image(图像)
选择下述中用于Height Threshold_Top[μm](高度阈值_顶部[μm])和Height Threshold_
Bottom[μm](高度阈值_底部[μm])的2D图像。
选择透过通孔以及比检测目标有更高亮度值的焊锡的图像。默认值为Top(顶部)。
Resolution
(分辨率)
指定检验分辨率。
选择1/4时,以1/4的分辨率执行检验。
可选1/4、1/8、和 1/16。
如果选择较小数值,则分辨率低,但缩短了检验时间。
默认值为1/4。
Min size[μm]
(最小尺寸[μm])
指定最小检测尺寸。
不检测比该数值小的元件。
根据检验目标调整数值。有关详情,请参考表10-26。
Max size[μm]
(最大尺寸[μm])
指定最大检测尺寸。
不检测比该数值大的元件。
根据检验目标调整数值。有关详情,请参考表10-26。
Max detection num
(最大检测数量)
指定最高检测数量。
当检测数量超过设定值时停止检测。
默认值为150,最大值为 300。
Height Threshold_
Top[μm](高度阈
值_顶部[μm])
指定高度检测的上限值。
这是防止因高度噪点等原因造成误判的参数。
最大设定值为20000μm。有关详情,请参考表10-27。
Height Threshold_
Bottom[μm](高度
阈值_底部[μm])
指定高度检测的下限值。
这是防止因丝印层等原因造成误判的参数。
最大设定值为0μm。有关详情,请参考表10-27。
FilterScale
(过滤表)
指定噪点过滤范围。
设置噪点过滤器的强度,防止由于少量噪点、位置稍稍错位等造成的误判。
可选No Use(不使用)、3x3、5x5、7x7、和9x9。
数值越大,过滤器的强度越大,可以消除噪点。
默认值为7x7。
Stdev calculation
area(%)
(标准差计算区域
(%))
指定Height Stdev(高度标准差)的计算方法。
按升序重新安排检测区域每一像素的高度,仅使用顶部高度计算Height Stdev(高度标准
差),多出的元件和噪点的分离即变得简单。
默认值为70%,按升序分类后,高度的70%或以上用于计算Height Stdev(高度标准差)。
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图 10-25 高度标准差计算区域
表 10-10 检查参数说明

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第 2 部分 检验数据
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图 10-26 最小尺寸和最大尺寸
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图 10-27 高度阈值
项目 说明
HeightAverage
(高度平均值)
显示检测区域的高度平均值。
这一参数不是默认值。
将该数值用作参考,设置检查参数的Height Threshold_Top(μm)(高度阈值_顶部
(μm))和Height Threshold_Bottom(μm)(高度阈值_底部(μm))。
HeightStdev
(高度标准差)
指定检测区域每一像素的高度分布。
当检测的误放元件判定为NG时进行设置。
如图10-28所示,片状元件等误放元件的高度比较集中。
但高度噪点比较分散。
BrightAverage_Top
(亮度平均值_顶部)
基于检查参数中[图像]选择的图像,指定检测区域的亮度平均值。
设置亮度平均值_顶部的数值,从而使焊锡和丝印层区域的误判判定为OK。
设置亮度平均值_底部的数值,从而使透过通孔的误判判定为OK。
高度噪点的亮度比焊锡和通过通孔等的误放元件的亮度要高得多。
BrightAverage_Bottom
(亮度平均值_底部)
表 10-11 检验参数说明
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图 10-28 高度标准差
在高度Ecd中,至少有一个检验参数判定为OK时,则检测区域判定为非误放元件。