SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第300页

II- 264 3D AOI Programming Manual 第 2 部分 检验数据 第6步： 当区域未能检测到或检测区域过多时，参考表10-12调整检查参数。 项目 原因 对策 未能检测到某些区 域时 Min size[μm]（最小尺寸[μm]）的设定 值大于检测目标。 把Min size[μm]（最小尺寸[μm]）的数值 变小 Max size[μm]（最大尺寸[μm]）的设定 值小于检测目标。 把Max size[μm]（最…

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3D AOI Programming Manual
第 2 部分 检验数据
第5步： 点击 ，然后检查是否检测到误放元件。
判定为误放元件的区域以红色突出显示。
判定为正确实装的检测区域以绿色突出显示。
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图 10-30 误放元件的检测
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264
3D AOI Programming Manual
第 2 部分 检验数据
第6步： 当区域未能检测到或检测区域过多时，参考表10-12调整检查参数。
项目 原因 对策
未能检测到某些区
域时
Min size[μm]（最小尺寸[μm]）的设定
值大于检测目标。
把Min size[μm]（最小尺寸[μm]）的数值
变小
Max size[μm]（最大尺寸[μm]）的设定
值小于检测目标。
把Max size[μm]（最大尺寸[μm]）的数值
变大
Height Threshold_Bottom[μm]（高度阈
值_底部[μm]）的设定值大于检测目标。
把Height Threshold_Bottom[μm]（高度阈
值_底部[μm]）的数值变小
Height Threshold_Top[μm]（高度阈值_
顶部[μm]）的设定值小于检测目标。
把Height Threshold_Top[μm]（高度阈
值_顶部[μm]）的数值变大
检测目标移除，因为FilterScale（过滤
表）的设定值过大。
把FilterScale（过滤表）的数值变小
目标在检测前，检测数量超过Max
detection num（最大检测数量）。
把Max detection num（最大检测数量）的
数值变大
当检测数量大时
Min size[μm]（最小尺寸[μm]）的设定
值小于检测目标。
把Min size[μm]（最小尺寸[μm]）的设定
值变大
Max size[μm]（最大尺寸[μm]）的设定
值大于检测目标。
把Max size[μm]（最大尺寸[μm]）的设定
值变小
Height Threshold_Bottom[μm]（高度阈
值_底部[μm]）的指定值小于检测目标。
把Height Threshold_Bottom[μm]（高度阈
值_底部[μm]）的数值变大
Height Threshold_Top[μm]（高度阈值_
顶部[μm]）的设定值大于检测目标。
把Height Threshold_Top[μm]（高度阈
值_顶部[μm]）的数值变小
噪点未正确移除，因为FilterScale（过
滤表）的设定值过小。
把FilterScale（过滤表）的设定值变大
表 10-12 检查参数调整
第7步： 发生误判时，参考表10-13调整检验参数。
误判项目 对策
电路板上的噪点判定为误放元件
调整参数使HeightStdev（高度标准差）变为OK。
当噪点高度大时，调整Height Threshold_Top[μm]（高度阈值_顶部[μm]）
的值，不检测噪点。
透过通孔的噪点判定为误放元件
调整BrightAverage_Bottom（亮度平均值_底部）的设定值，使透过通孔区域
变为OK。
当调整影响到其他检测区域时，从检验参数的Image（图像）中选择亮度明显
不同的图像。
焊锡或丝印层区域判定为误放元
件。
调整BrightAverage_Top（亮度平均值_顶部）的设定值，使焊锡和丝印层区
域变为OK。
当调整影响到其他检测区域时，从检验参数的Image（图像）中选择亮度明显
不同的图像。
表 10-13 检验参数调整
3D AOI Programming Manual
第 3 部分 检验算法
III-
1
Inspection Algorithm
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