SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第295页
II- 259 3D AOI Programming Manual 第 2 部分 检验数据 10.6 ECD算法设置（高度Ecd） HeightEcd（高度Ecd）是ECD的算法，用于检测ECD区域高于特定高度的区域。 该算法适用于高度复杂环境下的少量电路板的情况。 这种算法也适用于与电路板颜色相似的元件。 因为这种算法用高度信息检测误放元件。 10.6.1 参数设置 样本参数 图 10-23 样本参数 项目 说明 ImageOutpu…
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第 2 部分 检验数据
10.5 视野跳过设置
ECD检验与正常元件不同，即使ECD区域未填充视野，检验也会运行。
下面对视野分配过程中不考虑ECD区域的设置方法进行说明。
第1步： 点击窗口左上方的BF2按钮打开菜单，然后点击BF2 Option（BF2选项）。
图 10-20 BF2选项
第2步： 显示以下对话框。选择Inspection Data（检验数据）。
图 10-21 BF2选项设置 1
第3步： 显示以下对话框。
选择FOV Auto Allocation（视野自动分配），然后勾选Ignore EcdArea for FOV allocation
（视野分配时忽略多件检测功能的区域）。
自动视野分配和视野分配验证在不考虑ECD区域时运行。
图 10-22 BF2选项设置 2
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3D AOI Programming Manual
第 2 部分 检验数据
10.6 ECD算法设置（高度Ecd）
HeightEcd（高度Ecd）是ECD的算法，用于检测ECD区域高于特定高度的区域。
该算法适用于高度复杂环境下的少量电路板的情况。
这种算法也适用于与电路板颜色相似的元件。
因为这种算法用高度信息检测误放元件。
10.6.1 参数设置
样本参数
图 10-23 样本参数
项目 说明
ImageOutput（图像输出）
只有Saki工程师才能修改此项。不要随意修改此设置。
默认设置为False（误判）。
表 10-9 说明
检测&检验参数
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图 10-24 检测和检验参数（1.0.0.0版）
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第 2 部分 检验数据
项目 说明
Image（图像）
选择下述中用于Height Threshold_Top[μm]（高度阈值_顶部[μm]）和Height Threshold_
Bottom[μm]（高度阈值_底部[μm]）的2D图像。
选择透过通孔以及比检测目标有更高亮度值的焊锡的图像。默认值为Top（顶部）。
Resolution
（分辨率）
指定检验分辨率。
选择1/4时，以1/4的分辨率执行检验。
可选1/4、1/8、和 1/16。
如果选择较小数值，则分辨率低，但缩短了检验时间。
默认值为1/4。
Min size[μm]
（最小尺寸[μm]）
指定最小检测尺寸。
不检测比该数值小的元件。
根据检验目标调整数值。有关详情，请参考表10-26。
Max size[μm]
（最大尺寸[μm]）
指定最大检测尺寸。
不检测比该数值大的元件。
根据检验目标调整数值。有关详情，请参考表10-26。
Max detection num
（最大检测数量）
指定最高检测数量。
当检测数量超过设定值时停止检测。
默认值为150，最大值为 300。
Height Threshold_
Top[μm]（高度阈
值_顶部[μm]）
指定高度检测的上限值。
这是防止因高度噪点等原因造成误判的参数。
最大设定值为20000μm。有关详情，请参考表10-27。
Height Threshold_
Bottom[μm]（高度
阈值_底部[μm]）
指定高度检测的下限值。
这是防止因丝印层等原因造成误判的参数。
最大设定值为0μm。有关详情，请参考表10-27。
FilterScale
（过滤表）
指定噪点过滤范围。
设置噪点过滤器的强度，防止由于少量噪点、位置稍稍错位等造成的误判。
可选No Use（不使用）、3x3、5x5、7x7、和9x9。
数值越大，过滤器的强度越大，可以消除噪点。
默认值为7x7。
Stdev calculation
area（%）
（标准差计算区域
（%））
指定Height Stdev（高度标准差）的计算方法。
按升序重新安排检测区域每一像素的高度，仅使用顶部高度计算Height Stdev（高度标准
差），多出的元件和噪点的分离即变得简单。
默认值为70%，按升序分类后，高度的70%或以上用于计算Height Stdev（高度标准差）。
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图 10-25 高度标准差计算区域
表 10-10 检查参数说明