SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第298页
II- 262 3D AOI Programming Manual 第 2 部分 检验数据 10.6.2 设置步骤 第1步： 从ECD选项卡中选择Layout（布局）组 > Mask（屏蔽）。 点击Modify mask mode（修改屏蔽模式）对话框的Add Mask for All Component（添加屏蔽 窗口给所有元件），添加屏蔽。 参考10.3 ECD设置步骤的第8步到第10步创建屏蔽。 图 10-29 添加屏蔽窗口…
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第 2 部分 检验数据
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图 10-26 最小尺寸和最大尺寸
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图 10-27 高度阈值
项目 说明
HeightAverage
（高度平均值）
显示检测区域的高度平均值。
这一参数不是默认值。
将该数值用作参考，设置检查参数的Height Threshold_Top(μm)（高度阈值_顶部
（μm））和Height Threshold_Bottom(μm)（高度阈值_底部（μm））。
HeightStdev
（高度标准差）
指定检测区域每一像素的高度分布。
当检测的误放元件判定为NG时进行设置。
如图10-28所示，片状元件等误放元件的高度比较集中。
但高度噪点比较分散。
BrightAverage_Top
（亮度平均值_顶部）
基于检查参数中[图像]选择的图像，指定检测区域的亮度平均值。
设置亮度平均值_顶部的数值，从而使焊锡和丝印层区域的误判判定为OK。
设置亮度平均值_底部的数值，从而使透过通孔的误判判定为OK。
高度噪点的亮度比焊锡和通过通孔等的误放元件的亮度要高得多。
BrightAverage_Bottom
（亮度平均值_底部）
表 10-11 检验参数说明
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图 10-28 高度标准差
在高度Ecd中，至少有一个检验参数判定为OK时，则检测区域判定为非误放元件。
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第 2 部分 检验数据
10.6.2 设置步骤
第1步： 从ECD选项卡中选择Layout（布局）组 > Mask（屏蔽）。
点击Modify mask mode（修改屏蔽模式）对话框的Add Mask for All Component（添加屏蔽
窗口给所有元件），添加屏蔽。
参考10.3 ECD设置步骤的第8步到第10步创建屏蔽。
图 10-29 添加屏蔽窗口给所有元件
第2步： 完成创建屏蔽后，进入ECD area edit mode（ECD区域编辑模式）。
从Algorithm（算法）下拉菜单中选择HeightEcd（高度Ecd）。
第3步： 从Image（图像）下拉菜单中选择能使透过通孔和焊锡的亮度明显的灯光。默认值为顶部。
第4步： 勾选Resolution（分辨率）、Min size(μm)（最小尺寸（μm））、Max size(μm)（最大
尺寸（μm））、Max detection num（最大检测数量）、Height Threshold_Top(μm)（高
度阈值_顶部（μm））、Height Threshold_Bottom(μm)（高度阈值_底部（μm））以及
FilterScale（过滤表）的值。
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第 2 部分 检验数据
第5步： 点击 ，然后检查是否检测到误放元件。
判定为误放元件的区域以红色突出显示。
判定为正确实装的检测区域以绿色突出显示。
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图 10-30 误放元件的检测