SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第6页
3D AOI Programming Manual 介绍 3.5 检验参数（算法扩展） .............................. II-157 3.5.1 算法扩展程序 .................................. II-157 3.5.2 算法扩展的用户设置 ............................ II-157 3.6 检验参数（检验预设置） ...............…
3D AOI Programming Manual
介绍
1.10.5 设置OR组 .....................................II-105
1.10.6 共享偏移信息 .................................II-106
1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口 ...................II-108
1.11 退出调整检查参数 .................................II-110
1.11.1 移交特定参数的设置 ...........................II-112
1.12 自动编程 .........................................II-114
1.12.1 导入标准检验库 ...............................II-115
1.12.2 自动分配形状 .................................II-115
1.12.3 手动分配形状 .................................II-120
1.12.4 清除分配的形状 ...............................II-122
1.12.5 生成检查参数 .................................II-123
2 手动检验 ............................................II-126
2.1 基准点检验 ........................................II-126
2.1.1 基准点检验步骤 ................................II-126
2.1.2 禁用基准点调整 ................................II-126
2.2 电路板检验 ........................................II-127
2.2.1 开始检验 ......................................II-127
2.2.2 检验结果显示 ..................................II-128
3 编辑检验数据 ........................................II-129
3.1 元件数据的列表显示 ................................II-129
3.1.1 选择元件数据（元件列表） ......................II-129
3.1.2 元件数据分类 ..................................II-130
3.1.3 过滤元件数据 ..................................II-130
3.1.4 搜索元件数据 ..................................II-131
3.2 编辑元件数据 ......................................II-132
3.2.1 选择元件数据（电路板观察器） ..................II-132
3.2.2 添加元件数据 ..................................II-133
3.2.3 元件数据的跳过设置 ............................II-134
3.2.4 删除元件数据 ..................................II-134
3.2.5 转移元件数据 ..................................II-135
3.2.6 旋转元件数据 ..................................II-137
3.2.7 反转元件数据位置 ..............................II-139
3.3 修改库、参考名称、数据库ID、形状和检查参数 ........II-141
3.3.1 修改电路板观察器上的分配 ......................II-141
3.3.2 显示数据库ID表 ................................II-144
3.3.3 在数据库ID表中修改数据库ID ....................II-146
3.3.4 修改数据库ID表里的库、形状和检查参数 ..........II-146
3.3.5 在数据库ID表中修改数据库ID的分配 ..............II-147
3.3.6 导入/导出库 ...................................II-148
3.3.7 删除检验库 ....................................II-150
3.3.8 导入数据库ID ..................................II-153
3.3.9 链接库 ........................................II-154
3.4 导入布局 ..........................................II-155
3.4.1 导入实装数据 ..................................II-155
3.4.2 导入赛凯标准格式数据 ..........................II-156
3D AOI Programming Manual
介绍
3.5 检验参数（算法扩展） ..............................II-157
3.5.1 算法扩展程序 ..................................II-157
3.5.2 算法扩展的用户设置 ............................II-157
3.6 检验参数（检验预设置） ............................II-161
3.6.1 检验预设置步骤 ................................II-161
3.6.2 检验预设置的用户设置 ..........................II-162
3.7 检验参数（OCV统一设置） ...........................II-164
3.7.1 OCV统一设置步骤 ...............................II-164
4 获取电路板图像 ......................................II-171
4.1 创建视野文件 ......................................II-171
4.1.1 创建视野文件 ..................................II-171
4.1.2 简便视野的分配 ................................II-172
4.2 扫描电路板 ........................................II-173
4.3 编辑视野 ..........................................II-174
4.3.1 选择视野 ......................................II-174
4.3.2 锁定视野 ......................................II-175
4.3.3 优化视野分配（自动分配） ......................II-176
4.3.4 Add FOV（添加视野） ...........................II-176
4.3.5 为特定区域添加视野 ............................II-177
4.3.6 检查视野的分配 ................................II-178
4.3.7 视野路径优化 ..................................II-179
4.3.8 电路板高度禁区 ................................II-180
4.3.9 个性化视野设置 ................................II-181
4.3.10 投影仪设置 ...................................II-182
4.3.11 辉度选择 .....................................II-184
4.3.12 电路板高度补偿设置 ...........................II-188
4.3.13 视野的子板数据设置 ...........................II-191
4.3.14 用其他名称保存视野文件 .......................II-192
4.3.15 选择视野文件 .................................II-193
4.3.16 视野文件自动加载设置 .........................II-193
4.3.17 修改视野文件名 ...............................II-194
4.3.18 删除视野文件 .................................II-195
4.3.19 导入视野文件 .................................II-196
4.3.20 导出视野文件 .................................II-197
4.4 图像文件管理 ......................................II-198
4.4.1 添加电路板图像 ................................II-198
4.4.2 修改显示的电路板图像 ..........................II-199
4.4.3 图像文件自动加载设置 ..........................II-200
4.4.4 修改图像文件名 ................................II-201
4.4.5 删除图像文件 ..................................II-202
4.4.6 导入图像文件 ..................................II-203
4.4.7 导出图像文件 ..................................II-204
5 板弯补偿功能 ........................................II-205
5.1 传统电路板高度补偿方法 ............................II-205
5.2 板弯补偿功能的类型 ................................II-206
5.2.1 Find Plane（找平面） ..........................II-206
3D AOI Programming Manual
介绍
5.2.2 依照零件边缘进行补偿 ..........................II-207
5.2.3 使用板弯补偿功能 ..............................II-207
5.3 板弯补偿设置 ......................................II-208
5.3.1 切换板弯补偿功能 ..............................II-208
5.3.2 编辑在边缘的板弯补偿参照点 ....................II-209
5.4 用找平面时的设置 ..................................II-213
5.4.1 电路板高度禁区 ................................II-213
5.4.2 电路板颜色提取设置 ............................II-213
5.5 电路板高度补偿调节 ................................II-218
6 创建大型电路板的检验数据 ............................II-219
6.1 分配元件层 ........................................II-219
6.2 分配视野层 ........................................II-221
6.3 添加基准标定点 ....................................II-222
6.4 注册电路板边缘检测的模板图像 ......................II-223
6.5 按层显示 ..........................................II-224
7 离线调试 ............................................II-225
7.1 指定输出路径 ......................................II-225
7.2 元件图像的输出设置 ................................II-227
7.3 列出元件图像输出 ..................................II-229
7.4 使用离线调试功能对参数进行微调 ....................II-231
7.4.1 图像列表 ......................................II-231
7.4.2 使用离线调试功能检验图像输出 ..................II-232
8 调试模式 ............................................II-233
8.1 窗口详细信息 ......................................II-233
8.2 调试模式设置 ......................................II-234
8.3 调试检验数据 ......................................II-235
8.4 检验结果的人工判断 ................................II-235
9 选择性检查 ..........................................II-237
9.1 选择性检查类型 ....................................II-237
9.1.1 检验跳过元件 ..................................II-237
9.1.2 未放置的元件 ..................................II-237
9.1.3 数据库ID重新分配元件 ..........................II-237
9.2 选择性检查设置步骤 ................................II-238
9.2.1 跳过元件检验的设置 ............................II-239
9.2.2 未放置元件的设置 ..............................II-240
9.2.3 数据库ID重新分配元件的设置 ....................II-242
9.2.4 视野文件的分配 ................................II-243
9.2.5 子板镜像 ......................................II-243
9.3 选择选择性检查 ....................................II-244
9.3.1 手动选择 ......................................II-244
9.3.2 自动选择 ......................................II-244
9.4 选择性检查设置的导出和导入 ........................II-246
9.4.1 选择性检查设置的导出 ..........................II-246
9.4.2 选择性检查设置的导入 ..........................II-246
9.5 搜索选择性检查设置元件 ............................II-247