SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第5页
3D AOI Programming Manual 介绍 1.10.5 设置OR组 ..................................... II-105 1.10.6 共享偏移信息 ................................. II-106 1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口 ................... II-108 1.11 退出调整检查参数 ................…
3D AOI Programming Manual
介绍
1 创建检验数据 ..........................................II-2
1.1 创建数据的流程图 ....................................II-2
1.2 创建赛凯标准格式数据 ................................II-4
1.2.1 ePM-AOI窗口详细信息 .............................II-5
1.2.2 创建赛凯标准格式数据的步骤 ......................II-6
1.3 检验数据向导 .......................................II-16
1.3.1 加载检验数据（赛凯标准格式数据） ...............II-19
1.3.2 加载检验数据（实装数据&Gerber数据） ............II-22
1.3.3 加载检验数据（ODB++） ..........................II-41
1.4 基准标定点和坏板基准点设置 .........................II-42
1.4.1 创建基准点 .....................................II-42
1.4.2 手动分配基准点 .................................II-46
1.4.3 自动分配基准点 .................................II-51
1.4.4 异常情况 .......................................II-52
1.4.5 进行基准标定点补偿 .............................II-54
1.4.6 自动模式下手动调整基准标定点位置 ...............II-56
1.5 子板数据设置 .......................................II-59
1.6 分配形状 ...........................................II-64
1.6.1 形状的概述 .....................................II-64
1.6.2 窗口详细信息 ...................................II-65
1.6.3 打开编辑形状界面 ...............................II-66
1.6.4 分配现有形状 ...................................II-67
1.6.5 复制现有形状 ...................................II-68
1.6.6 通过形状向导创建形状 ...........................II-69
1.6.7 自动生成一个形状 ...............................II-75
1.7 调整形状 ...........................................II-76
1.7.1 窗口详细信息 ...................................II-76
1.7.2 调整元素尺寸 ...................................II-77
1.7.3 用数值设计添加元素 .............................II-79
1.7.4 从元素本体中添加元素 ...........................II-80
1.7.5 引脚/电极ID管理 ................................II-81
1.7.6 调整元素位置 ...................................II-82
1.7.7 调整形状须知 ...................................II-83
1.8 关闭编辑形状界面 ...................................II-85
1.9 分配检查参数 .......................................II-86
1.9.1 检查参数的概述 .................................II-86
1.9.2 窗口详细信息 ...................................II-87
1.9.3 打开编辑检查参数界面 ...........................II-88
1.9.4 创建检查参数 ...................................II-89
1.9.5 用元素向导设置检测窗口 .........................II-90
1.9.6 手动设置检验项目 ...............................II-92
1.9.7 导入和导出检测窗口 .............................II-94
1.10 调整检查参数 ......................................II-96
1.10.1 窗口详细信息 ..................................II-96
1.10.2 参数调整 ......................................II-97
1.10.3 调整检测窗口尺寸 .............................II-103
1.10.4 调整检测窗口位置 .............................II-104
第2部分
检验数据
目录
3D AOI Programming Manual
介绍
1.10.5 设置OR组 .....................................II-105
1.10.6 共享偏移信息 .................................II-106
1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口 ...................II-108
1.11 退出调整检查参数 .................................II-110
1.11.1 移交特定参数的设置 ...........................II-112
1.12 自动编程 .........................................II-114
1.12.1 导入标准检验库 ...............................II-115
1.12.2 自动分配形状 .................................II-115
1.12.3 手动分配形状 .................................II-120
1.12.4 清除分配的形状 ...............................II-122
1.12.5 生成检查参数 .................................II-123
2 手动检验 ............................................II-126
2.1 基准点检验 ........................................II-126
2.1.1 基准点检验步骤 ................................II-126
2.1.2 禁用基准点调整 ................................II-126
2.2 电路板检验 ........................................II-127
2.2.1 开始检验 ......................................II-127
2.2.2 检验结果显示 ..................................II-128
3 编辑检验数据 ........................................II-129
3.1 元件数据的列表显示 ................................II-129
3.1.1 选择元件数据（元件列表） ......................II-129
3.1.2 元件数据分类 ..................................II-130
3.1.3 过滤元件数据 ..................................II-130
3.1.4 搜索元件数据 ..................................II-131
3.2 编辑元件数据 ......................................II-132
3.2.1 选择元件数据（电路板观察器） ..................II-132
3.2.2 添加元件数据 ..................................II-133
3.2.3 元件数据的跳过设置 ............................II-134
3.2.4 删除元件数据 ..................................II-134
3.2.5 转移元件数据 ..................................II-135
3.2.6 旋转元件数据 ..................................II-137
3.2.7 反转元件数据位置 ..............................II-139
3.3 修改库、参考名称、数据库ID、形状和检查参数 ........II-141
3.3.1 修改电路板观察器上的分配 ......................II-141
3.3.2 显示数据库ID表 ................................II-144
3.3.3 在数据库ID表中修改数据库ID ....................II-146
3.3.4 修改数据库ID表里的库、形状和检查参数 ..........II-146
3.3.5 在数据库ID表中修改数据库ID的分配 ..............II-147
3.3.6 导入/导出库 ...................................II-148
3.3.7 删除检验库 ....................................II-150
3.3.8 导入数据库ID ..................................II-153
3.3.9 链接库 ........................................II-154
3.4 导入布局 ..........................................II-155
3.4.1 导入实装数据 ..................................II-155
3.4.2 导入赛凯标准格式数据 ..........................II-156
3D AOI Programming Manual
介绍
3.5 检验参数（算法扩展） ..............................II-157
3.5.1 算法扩展程序 ..................................II-157
3.5.2 算法扩展的用户设置 ............................II-157
3.6 检验参数（检验预设置） ............................II-161
3.6.1 检验预设置步骤 ................................II-161
3.6.2 检验预设置的用户设置 ..........................II-162
3.7 检验参数（OCV统一设置） ...........................II-164
3.7.1 OCV统一设置步骤 ...............................II-164
4 获取电路板图像 ......................................II-171
4.1 创建视野文件 ......................................II-171
4.1.1 创建视野文件 ..................................II-171
4.1.2 简便视野的分配 ................................II-172
4.2 扫描电路板 ........................................II-173
4.3 编辑视野 ..........................................II-174
4.3.1 选择视野 ......................................II-174
4.3.2 锁定视野 ......................................II-175
4.3.3 优化视野分配（自动分配） ......................II-176
4.3.4 Add FOV（添加视野） ...........................II-176
4.3.5 为特定区域添加视野 ............................II-177
4.3.6 检查视野的分配 ................................II-178
4.3.7 视野路径优化 ..................................II-179
4.3.8 电路板高度禁区 ................................II-180
4.3.9 个性化视野设置 ................................II-181
4.3.10 投影仪设置 ...................................II-182
4.3.11 辉度选择 .....................................II-184
4.3.12 电路板高度补偿设置 ...........................II-188
4.3.13 视野的子板数据设置 ...........................II-191
4.3.14 用其他名称保存视野文件 .......................II-192
4.3.15 选择视野文件 .................................II-193
4.3.16 视野文件自动加载设置 .........................II-193
4.3.17 修改视野文件名 ...............................II-194
4.3.18 删除视野文件 .................................II-195
4.3.19 导入视野文件 .................................II-196
4.3.20 导出视野文件 .................................II-197
4.4 图像文件管理 ......................................II-198
4.4.1 添加电路板图像 ................................II-198
4.4.2 修改显示的电路板图像 ..........................II-199
4.4.3 图像文件自动加载设置 ..........................II-200
4.4.4 修改图像文件名 ................................II-201
4.4.5 删除图像文件 ..................................II-202
4.4.6 导入图像文件 ..................................II-203
4.4.7 导出图像文件 ..................................II-204
5 板弯补偿功能 ........................................II-205
5.1 传统电路板高度补偿方法 ............................II-205
5.2 板弯补偿功能的类型 ................................II-206
5.2.1 Find Plane（找平面） ..........................II-206