SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第81页
II- 45 3D AOI Programming Manual 第 2 部分 检验数据 第11步： 从Image filter（图像过滤器）中选择一个灯光，然后点击 。 图 1-85 选择灯光 第12步： 确认已检测基准标定点/坏板基准点。 如果检测不到基准标定点/坏板基准点，变换灯光或调整算法参数。 图 1-86 检测基准点 第13步： 从Edit Recipe（编辑检查参数）选项卡中选择Exit（退出）组 > Exit（退出…
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第 2 部分 检验数据
第8步： 点击Edit Panel（编辑板）上的Add（添加）。添加新的检测窗口。
图 1-82 编辑板 3
第9步： 从停靠窗口选择Parameter Editor（参数编辑器） > Algorithm（算法）来打开下拉菜单。
选择可以检测到Shift（偏移）值的算法（例如，Circular Fiducial（圆形基准标定点）、
Square Fiducial（方形基准标定点））。
有关算法详情，请参考第3部分 检验算法。
图 1-83 选择一个算法
第10步： 调整检测窗口的尺寸，以便包围基准标定点/坏板基准点。
图 1-84 调整检测窗口
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第 2 部分 检验数据
第11步： 从Image filter（图像过滤器）中选择一个灯光，然后点击 。
图 1-85 选择灯光
第12步： 确认已检测基准标定点/坏板基准点。
如果检测不到基准标定点/坏板基准点，变换灯光或调整算法参数。
图 1-86 检测基准点
第13步： 从Edit Recipe（编辑检查参数）选项卡中选择Exit（退出）组 > Exit（退出）。
图 1-87 完成编辑 1
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第 2 部分 检验数据
第14步： 点击Yes（是）。
图 1-88 完成编辑 2
第15步： 如有必要，可以重复第2步至第14步创建更多的基准点。
如果电路板图像上设置了两个基准标定点，启动检验时，元件数据位置和角度将被
调整。如果设置了3个基准标定点，电路板的翘曲度也会被调整。
1.4.2 手动分配基准点
下面通过以下的电路板示例，对如何分配创建的基准标定点和坏板基准点进行说明。
橙色的基准标定点创建为子板基准标定点。
面板基准标定点（下图的红色基准点）修正每个基准标定点的位置。
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图 1-89 分配基准标定点