SAKI 3D AOI 编程手册2019-04_V1.03D（中文版) (1).pdf - 第332页
3D AOI Programming Manual 第 3 部分 检验算法 III- 32 1.9 Chip Align（片状元件位置） 1.9.1 检验概述 Chip Align（片状元件位置）是在检测窗口中检测片状元件的算法。 该算法也可以计算检测到的元件和检测窗口的中心之间的实装角度和距离（X和Y坐标）。 该算法根据高度信息检测长度方向上片状元件和指定图像过滤器的边缘，从而检测宽度方向上的边 缘（电极）。 Chip Align（片…
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第 3 部分 检验算法
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1.8.3 设置步骤
第1步： 从Algorithm（算法）下拉列表中选择CircleAlign（圆形对齐）。
第2步： 从Image filter（图像过滤器）下拉列表中选择可以使元件能够清晰显示的灯光。
第3步： 将检测窗口调整至包围该元件。
图 1-33 调整检测窗口
第4步： 检查Lower limit（下限）和Upper limit（上限）的数值。将Upper limit（上限）设置为
255。设置清晰显示元件的Lower limit（下限）值。
第5步： 点击 图标，并检查是否检测到元件。
检测到的元件用粉红色圆形显示。
图 1-34 检测元件
第6步： 若要与其他检测窗口共享使用该算法检测的偏移信息，请选中Parameter Editor（参数编
辑器）上的Shift（偏移），然后左键点击弹出菜单中的Body Shift（本体偏移）。
随后，参考第2部分 1.10.7 调整应用偏移信息的检测窗口调整检测窗口。
第7步： 如果样本值被判为NG时，指定样本值的OK Range（良品范围）并设置NG Type（NG类型）。
如果未执行该检查操作，请取消选中该项目。
第8步： 点击 图标，并检查检验是否顺利完成。
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第 3 部分 检验算法
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1.9 Chip Align（片状元件位置）
1.9.1 检验概述
Chip Align（片状元件位置）是在检测窗口中检测片状元件的算法。
该算法也可以计算检测到的元件和检测窗口的中心之间的实装角度和距离（X和Y坐标）。
该算法根据高度信息检测长度方向上片状元件和指定图像过滤器的边缘，从而检测宽度方向上的边
缘（电极）。
Chip Align（片状元件位置）适用于校正发生错位的片状元件。
在Chip Align（片状元件位置）1.1.0.0版或更高的版本中，可以执行基于焊盘的偏移检验。
有关Pad Based Shift Inspection（基于焊盘的偏移检验）的详细信息，请参考第4部分 2 基于焊盘
的偏移检验。
1.9.2 参数设置
图 1-35 对话框 （Version 1.1.0.0）
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第 3 部分 检验算法
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参数 说明
Length Search Image
（长度搜索图像）
选择能够清晰显示电极的灯光。
Length Search Upper
（长度搜索上限）
检测片状元件在宽度方向上的边缘（电极）的设置。
Length Search Upper（长度搜索上限）为电极亮度的上限值。
Length Search Lower（长度搜索下限）为下限值。
计算元件电极及其边缘的亮度阈值时，设置数值以检测电极。
用Length Search Upper（长度搜索上限）和Length Search Lower（长度搜索下限）确认
为电极的像素以蓝色显示。
Length Search Lower
（长度搜索下限）
Smoothing Level
（平滑级）
设置更大的数值以减少噪点。默认值为6。
Height Image
（高度图像）
只有Saki工程师才能修改此项。不要随意修改此设置。
表 1-18 参数
参数 说明
Length（长度）
指定片状元件尺寸。
点击Element size（元素尺寸），设置元件本体元素尺寸的Length（长度）和Width（宽
度）。
点击Window size（窗口尺寸），设置当前窗口尺寸的Length（长度）和Width（宽度）。
Width（宽度）
Edge Search Range
（边缘搜索范围）
指定搜索片状元件边缘的区域。
设置Length（长度）和Width（宽度）设定值的百分比。显示界面上两条黄线之间的区域
为搜索范围。
Lower Height
Threshold
（高度阈值下限）
检测片状元件在长度方向上的边缘的设置。
识别等于或大于Lower Height Threshold（高度阈值下限）的高度，然后沿长度方向检测
片状元件的边缘。
将Lower Height Threshold（高度阈值下限）设置为低于元件的高度但高于焊锡的高度。
高度等于或大于Lower Height Threshold（高度阈值下限）的像素显示为绿色。
在此绿色区域中，利用长度搜索上限和长度搜索下限识别为电极的像素以蓝色显示。
点击Current searched center height 60%（当前已搜索中心高度的60%），将检测到高
度的中心部分的数值的60％设置为Lower Height Threshold（高度阈值下限）。
表 1-19 关于元件本体选项卡的说明
参数 说明
Use Electrode Size to
Overhang inspection
（使用电极尺寸进行偏移检验）
当元件本体宽度与电极宽度不相同时，请勾选此项目。
Electrode Length [μm]
（电极长度[μm]）
规定电极的尺寸。
点击Acquire size of electrode from element（从元素获取电极尺寸），将
电极的元素尺寸设置为Electrode Length[μm]（电极长度[μm]）和
Electrode Width[μm]（电极宽度[μm]）。
Electrode Width [μm]
（电极宽度[μm]）
表 1-20 关于电极选项卡的说明