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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 69 输入示例 识别 中心偏移 ( 0,0 )时 识别中心 偏移 ( 5, -2 )时 + a b : :吸取中心位置 + :元件中心 位置 ( a 、 b) =( 5 , -2 ) 吸取中心位置= VC S 的中心位置 + + -Y 方向 +X 方向 : VCS 的 视野 (俯视图)

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1 基本篇 4 制作生产程序
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2) 图像定心时
选择定心选项卡,即显示如下画面。
吸嘴号
元件吸取真空压
「( 1)激光定心时」的设置相同。
识别中心偏移量
图像定心是通过将吸取中心位置(通常是元件中心位置)移动到 VCS 的中心位置来进行。但
MCM(Multi Chip Module)之类的元件,不能吸取元件中心,如果超出 VCS 视野范围时,将不
能进行图像定心。此时,可通过输入下一页示例的偏移值(ab),使之正常进行识别。
夹式吸嘴数据
「( 1)激光定心时」的设置相同。
S-VCS
进行 S-VCS 识别设置
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输入示例
识别中心偏移0,0)时 识别中心偏移5,-2)时
+
a
b
:
:吸取中心位置
+ :元件中心位置
(ab)=(5-2
吸取中心位置=VCS 的中心位置
+
+
-Y 方向
+X 方向
VCS 视野
(俯视图)
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4)吸取条件
吸取条件是关于吸取的设置项目,由于应用默认值,通常无需变更
如果在默认值的状态下不能正常吸取时,请变更设置。
注意
如果在变更吸取条件后变更了基本部分的项目,吸取条件的值
有可能被重新设置为默认值。
1) 吸取高度补偿
是指元件吸取时的按入量。
当设置为“0”时,因元件尺寸(高度)偏差等的影响,吸嘴到达不了元件,无法吸取元件或发生芯片
站立等现象。出现这种情况时,请增加吸嘴到达元件的高度补偿量(输入正值)
初始值为 “0.2mm” (060304020mm)
2) 重试次数
设置在生产中发生吸取失败时再次吸取的次数。
当生产过程中发生重试超限时,以黄色信号灯闪烁发出通知