KE-2070_使用说明书.pdf - 第499页
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 182 ● 变更吸取坐 标的方法 当用于检测的元 件的吸取位置与 实际有差异时 ，可使用 HOD 示教贴片 坐标。 此外，不进行示 教而用手动输入 也可变更坐标 。 步骤 1) 将光标移 动到 X 或 Y 坐标。 步骤 2) 按下 HOD 装置的键，进 行坐标示教 ，然后按 ENTER 键确定。 图 4-5-4-2-3- 2 正在示教 (3) 检测 项目 选择需要检测的 项目。默认值为…
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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4-5-4-2-3 检测操作
1) 单独检测
只对选择的元件进行检测。
① 设置单独检测的条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独”后，则显示如下画面。
图 4-5-4-2-3-1 设置单独检测条件
(1) 被检元件
显示被检元件的内容。
(2) 吸取位置
显示吸取元件的吸取位置的内容。可更改为前代替元件和后代替元件的吸取位置。当没有吸
取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推供料器和示教。
● 送料
顶推一下供料器，供给元件(32mm紙粘着带除外)。
● 把示教结果反映在吸取数据
选择是否将使用HOD进行示教的结果反映到吸取数据。不选择时，坐标仅适用于此次吸取时。
仅 KE-2080
可选择。
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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● 变更吸取坐标的方法
当用于检测的元件的吸取位置与实际有差异时，可使用HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键确定。
图 4-5-4-2-3-2 正在示教
(3) 检测项目
选择需要检测的项目。默认值为选择所有项目。根据元件种类，可检测的项目有所不同。
（KE-2080在图像识别元件的情况下，可以检测CDS高度）
设定结束后，单击“检测”，进行单独检测。
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中，显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置，并依
次显示进行中的处理内容。
图 4-5-4-2-3-3 正在进行单独检测
要强行结束检测时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4-5-4-2-3-4 检测结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问检测后的元件是归还、
或是废弃。
图 4-5-4-2-3-5 确认是否归还元件