KE-2070_使用说明书.pdf - 第500页

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 183 ② 正在进行单 独检测 的画面 在单独检 测过程中，显示如下 画面。显示正在进行单 独检测的元 件的内容及吸 取位置，并依 次显示进行中的 处理内容。 图 4-5-4-2-3- 3 正在进行单独检测 要强行结束检测 时，请按下 < 停止 > 开关，则显示以下 对话框。请 选择是、否。 图 4-5-4-2-3- 4 检测结束的确认 因元件的包装方 式而有所不同， 当元…

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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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● 变更吸取坐标的方法
当用于检测的元件的吸取位置与实际有差异时，可使用HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键确定。
图 4-5-4-2-3-2 正在示教
(3) 检测项目
选择需要检测的项目。默认值为选择所有项目。根据元件种类，可检测的项目有所不同。
（KE-2080在图像识别元件的情况下，可以检测CDS高度）
设定结束后，单击“检测”，进行单独检测。
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中，显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置，并依
次显示进行中的处理内容。
图 4-5-4-2-3-3 正在进行单独检测
要强行结束检测时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4-5-4-2-3-4 检测结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问检测后的元件是归还、
或是废弃。
图 4-5-4-2-3-5 确认是否归还元件
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4-5-4-2-3-6 询问是否更新激光高度
图 4-5-4-2-3-7 询问是否更新芯片站立判定高度
●是：用检测的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新检测值，使用原来的设定值。