KE-2070_使用说明书.pdf - 第753页
第 2 部 功能详细编 第 9 章 手动控制 9- 18 2 ）测量方法（ 算法） （仅限于 KE -2080R 的右贴片头可以选 择此项） 从组合框中选择 执行 [ 测量 (SWEEP)] 时的激光器算法。 按 [Alt ] + [ ↓ ] 键后，显示以 下的列表。 算法，左侧显示 的数字为算法， 右侧的英文字 母为 SWEEP 时的 θ 旋转速度。 算法： 1(14 、 – 14) ： 在当前位置进行预 旋转角度的逆 旋转， 在…
第 2 部 功能详细编 第 9 章 手动控制
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灵活 2
根据测量结果，检出元件的左右对称轴，从该轴取
得元件的中心坐标、及角度偏差量，进行贴
片校正。
元件尺寸，根据上述计算测量出的角度偏差量，以
实际的元件角度 0°为基础，把测量结果中最大的
幅度判断为 X、Y 。
如果元件存在多个对称轴，
因能取得元件的准确的中心
坐标，此形状会非常有效
(例：左图「○」元件)。
对称轴为1 个时，由于无法
取得元件的Y 方向的准确的
中心坐标，有时会发生贴片
偏移(例：左图「△」元件)。
但是，由于此偏移量有再现
性，输入贴片偏移量的方法，
有时也可以使用。
如果元件没有对称性，此形
状无效(例：左图「×」元件)
。
灵活 3
用元件的最小幅度附近的数据计算XY 的幅度、位
移量。从元件的 X 方向的 1 边的倾斜取得角度。
异形元件
可识别许多异形元件，但如
果元件的上下带有圆形，角
度偏移值会变得不稳定。
不设置
根据吸取姿势按贴片角度转动并贴片。
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2）测量方法（算法）（仅限于 KE-2080R 的右贴片头可以选择此项）
从组合框中选择执行[测量(SWEEP)]时的激光器算法。
按[Alt] + [↓] 键后，显示以下的列表。
算法，左侧显示的数字为算法，右侧的英文字母为 SWEEP 时的 θ 旋转速度。
算法：
1(14、–14)：在当前位置进行预旋转角度的逆旋转，在该位置旋转θ，找出影子宽度最小的位
置(第一次)。再从检测出的最小宽度位置起旋转 90 度，检测出第二个最小宽
度(第二次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法 1。
２(14、 14)：从当前位置进行预旋转角度的逆旋转，在该位置旋转θ，找出影子宽度最小的位
置(第一次)。再从检测出的最小宽度位置起旋转θ，检测出第二个最小宽度(第
二次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法 2。
３(–14、–14)：不旋转θ，在执行时的位置测量影子(第一次)。之后，在旋转后的位置测量
影子(第二次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法 3。
速度
： Ｈ：高速、Ｍ：中速、L：低速
（3）控制项目
选择左 1～左 6 贴片头时 选择 2080R 的右贴片头时
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（4）窗口类型
按下按钮，选择测量时窗口类型。
在控制项目中选择“测量（ONCE）”、“测量（SWEEP）”以外项目时，不能设置。
同时检测元件：设置的窗口尺寸范围，必须可容纳同时测量多个 Head 的元件。
（这些 Head 的吸嘴旋转中心±7.5mm）
若要测量比该窗口尺寸更大的大型元件，请指定单独测量元件。
单独检测元件：设置的激光测量的窗口尺寸范围，必须可容纳最大尺寸的元件。
指定测量单独元件时，需要使用其他 Head 的测量领域（窗口）。因此，其他 Head
下降到激光的高度时，可能造成测量失败。测量前，务必检查，确认其他 Head
没有降到激光测量的高度。
(5) 控制按钮
用控制按钮来执行控制。
控制按钮的显示因控制项目而异。
在控制结束时更新状态显示。
1) 真空
控制所选Head真空的开/关。
选中控制项目的“真空”时，选择“开(O)”按钮、“关(F)”按钮、“开/关(／)”按钮或按
下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
2) Z 轴调整
对所选Head的Z轴坐标进行控制。
吸嘴吸取元件时使用。
选中控制项目的“Z轴调整”时，选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“上/下(／)”按钮
或按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
3) Z 轴微调
对所选Head的Z轴坐标进行控制。
将吸取元件移动到激光测量高度等时使用。
选中控制项目的“Z轴微调”时，选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“LA面(／)”按钮或
按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。