KE-2070_使用说明书.pdf - 第754页
第 2 部 功能详细编 第 9 章 手动控制 9- 19 （ 4 ）窗口类型 按下按钮，选 择测量时窗 口类型。 在控制项目中 选择 “测量（ ONCE ） ” 、 “测量（ SWEEP ） ” 以外项 目时，不能设 置。 同时检测 元件：设置的窗 口尺寸范围， 必须可容纳同时 测量多个 Head 的元件。 （这些 Head 的吸嘴旋转中 心± 7.5m m ） 若要测量比该窗 口尺寸更大的 大型元件，请指 定单独测量元 件。 单独检测…
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2）测量方法（算法）（仅限于 KE-2080R 的右贴片头可以选择此项）
从组合框中选择执行[测量(SWEEP)]时的激光器算法。
按[Alt] + [↓] 键后，显示以下的列表。
算法，左侧显示的数字为算法，右侧的英文字母为 SWEEP 时的 θ 旋转速度。
算法：
1(14、–14)：在当前位置进行预旋转角度的逆旋转，在该位置旋转θ，找出影子宽度最小的位
置(第一次)。再从检测出的最小宽度位置起旋转 90 度，检测出第二个最小宽
度(第二次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法 1。
２(14、 14)：从当前位置进行预旋转角度的逆旋转，在该位置旋转θ，找出影子宽度最小的位
置(第一次)。再从检测出的最小宽度位置起旋转θ，检测出第二个最小宽度(第
二次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法 2。
３(–14、–14)：不旋转θ，在执行时的位置测量影子(第一次)。之后，在旋转后的位置测量
影子(第二次)。
相当于元件数据中设定的激光识别算法的算法 3。
速度
： Ｈ：高速、Ｍ：中速、L：低速
（3）控制项目
选择左 1～左 6 贴片头时 选择 2080R 的右贴片头时
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（4）窗口类型
按下按钮，选择测量时窗口类型。
在控制项目中选择“测量（ONCE）”、“测量（SWEEP）”以外项目时，不能设置。
同时检测元件：设置的窗口尺寸范围，必须可容纳同时测量多个 Head 的元件。
（这些 Head 的吸嘴旋转中心±7.5mm）
若要测量比该窗口尺寸更大的大型元件，请指定单独测量元件。
单独检测元件：设置的激光测量的窗口尺寸范围，必须可容纳最大尺寸的元件。
指定测量单独元件时，需要使用其他 Head 的测量领域（窗口）。因此，其他 Head
下降到激光的高度时，可能造成测量失败。测量前，务必检查，确认其他 Head
没有降到激光测量的高度。
(5) 控制按钮
用控制按钮来执行控制。
控制按钮的显示因控制项目而异。
在控制结束时更新状态显示。
1) 真空
控制所选Head真空的开/关。
选中控制项目的“真空”时，选择“开(O)”按钮、“关(F)”按钮、“开/关(／)”按钮或按
下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
2) Z 轴调整
对所选Head的Z轴坐标进行控制。
吸嘴吸取元件时使用。
选中控制项目的“Z轴调整”时，选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“上/下(／)”按钮
或按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
3) Z 轴微调
对所选Head的Z轴坐标进行控制。
将吸取元件移动到激光测量高度等时使用。
选中控制项目的“Z轴微调”时，选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“LA面(／)”按钮或
按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
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4) 变幻线（可以选择左 1～左 6 贴片头）
下列“变幻线图（纹条图）”，是通过激光单元测量(SWEEP)取得的数据所显示的元件轮廓图。
变幻线能显示的元件有方形芯片、方形芯片(LED)、圆筒形芯片、SOT。
选中控制项目“变幻线”时，可选择“执行(E)”按钮，或按“F3”键进行控制。
下面具体说明变幻线有关情况。
表 9-4-1-3-2 变幻线示例
变幻线和激光高度
说明
激光高度适当。取得的元件形状正确。取得形状后，激光
传感返回 SWEEP 识别结果。
元件上没有激光面，因得不到任何一个边缘结果，无法描
绘变幻线，画面呈黑色。激光传感 SWEEP 失败，返回信息
为无元件错误。
激光高度在元件下面附近时，有的地方激光面遮盖不全
的，有些边缘数据没有取得，变幻线形状变形，激光传感
SWEEP 识别失败，返回错误信息。
激光高度在元件上面和吸嘴边缘时，同上面情况一样，有
的地方激光面遮盖不全，出现 SWEEP 失败。
激光高度只达到吸嘴尖端而未达到元件时，变幻线显示出
吸嘴尖端的形状。