KE-2070_使用说明书.pdf - 第861页
第 2 部 功能详细篇 第 12 章 选项组件 12 - 28 (4) 可测量的范围 可测量范围为 1mm 以内，超出此 范围，就会产 生错误。 图 12-9-3-1 元 件可测量的范围 (5) 重测 可设定产生测量 错误时 ，重新测量的次 数。 ( 参见“ 8-5-10- 12 共面检测 ” ) (6) 输入测量参数 ① 测量时的共面 性判断值 ② 电极规格：宽 度、长度 ( 仅限于 引脚元件 ) ③ 引脚光泽信息 ：无光泽 / 标准…
第 2 部 功能详细篇 第 12 章 选项组件
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12-9-3 规格概要
(1) 对象元件
QFP、SOP、BGA、插头
※ 仅限于用 VCS 识别时
若为球元件(BGA)，仅限于识别种类指定为整个球(整个球基板、整个球陶瓷)时。用
通用图像制作的元件不适用。
※ SOP 引脚数一侧 7 根以上 128 根以下为对象元件。
除此以外也有可检测的情况，但不能保证动作正常。
(2) 分辨率、精度
① 分辨率：1μｍ
② 精度：±20μｍ(JUKI标准量规测量时)
由于插头探针的接触痕等，有时端子上有伤痕的元件或引脚元件的端子面形状不是矩形，
或者测量面的形状不是平面，则不能进行正确判断。
(3) 测量模式、元件尺寸
测量模式分“标准模式”和“高精细模式”。
标准模式以80mm/s的速度，高精细以20mm/s的速度在传感器上进行扫描。
表 12-9-3-1 不同测量模式的元件尺寸
项目 标准模式 高精细模式
引脚元件
间距 0.4mm 以上 0.3mm 以上
引脚宽 0.18mm 以上 0.12mm 以上
引脚长 0.5mm 以上 0.5mm 以上
元件
尺寸
统一 26mm×100mm 以下 26mm×50mm 以下
分类 50mm×100mm 以下 50mm×50mm 以下
球元件 间距 0.81mm 以上 0.5mm 以上
引脚直径 0.51mm 以上 0.3mm 以上
元件
尺寸
统一 26mm×100mm 以下 26mm×50mm 以下
分类 50mm×100mm 以下 50mm×50mm 以下
◆ 切换标准模式与高精细模式时，多棱镜的旋转速度切换需 3 秒钟。所以，在生产混
合使用标准模式和高精细模式的元件时，由于切换需要时间，因此将对生产节拍产
生影响。
◆ 元件高度：12mm 以下 20mm 规格、25mm 规格时，分别为 20mm、25mm 以下。
但长边超过 50mm，短边超过 45mm 的元件，其高度为 8mm 以下。
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(4) 可测量的范围
可测量范围为1mm以内，超出此范围，就会产生错误。
图 12-9-3-1 元件可测量的范围
(5) 重测
可设定产生测量错误时，重新测量的次数。(参见“8-5-10-12 共面检测”)
(6) 输入测量参数
① 测量时的共面性判断值
② 电极规格：宽度、长度(仅限于引脚元件)
③ 引脚光泽信息：无光泽/标准/有光泽(仅限于引脚元件)
④ 引脚亮度阈值
⑤ 测量时的激光强度：0～7
⑥ 测量高度偏移
⑦ 扫描位置偏移(从引脚尖端开始测量的位置)(仅限于引脚元件)
⑧ AGG：0～5
⑨ 测量模式
(7) 测量结果输出
对设置值进行良否判断
所有端子的高度信息及优劣判断
(8) 激光强度
激光： 1级(JISC6802､ IEC60825-1)
850mm红外半导体激光(不可见光)
1mm
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12-9-4 机器设置
进行共面检查时，必须进行“机器设置”。
启动“机器设置”。
图 12-9-4-1 机器设置画面
1) 在菜单栏中，选择“使用单元”/“选项使用单元”。
图 12-9-4-2 选项使用单元
请用按钮指定“共面检测”。
设置为：在按钮为凸状态时不使用，凹状态时为使用。