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第 2 部 功能详细篇 第 12 章 选项组件 12 - 24 12-9-2 共面性检查内容 12-9-2-1 共线性检查 检查有引脚的边 的“上下方向的 弯曲”。 ◇ 该检查用“一次 扫描”进行。 例如，用一次扫 描来检查各边： “ QFP 等的 4 边元件为 4 边” ，“ SOP 等的 2 边元件为 2 边”。 图 12-9-2-1-1 元件检查的说明 12-9-2-2 共面性检查 求出共面的方法 有两种。 QFP/SOP 可用 …
第 2 部 功能详细篇 第 12 章 选项组件
12-23
12-9 共面性处理
12-9-1 功能概要
本设备是利用扫描型激光变位仪来检测电子元件共面性的装置。
扫描型激光变位仪，是用受光镜将照射到测量对象的光斑所反射、散射的光进行聚光，通过在位
置传感器上制作光斑图像，以非接触方式测量变位的仪器。
以一定的速度沿激光扫描方向(X方向)和直行方向(Y方向)移动被测量元件，进行元件的3维形状
测量，得出由各像素组成的高度信息的距离图像。
◇ 本装置根据贴片机预先发送的元件信息，利用得出的距离图像来判断元件的优劣(电极的高度检
查)。
图 12-9-1-1 功能概要图
图 12-9-1-2 装置外观图
共面性传感器
VCS 装置
多棱镜
激光束
第 2 部 功能详细篇 第 12 章 选项组件
12-24
12-9-2 共面性检查内容
12-9-2-1 共线性检查
检查有引脚的边的“上下方向的弯曲”。
◇ 该检查用“一次扫描”进行。
例如，用一次扫描来检查各边：“QFP等的4边元件为4边”，“SOP等的2边元件为2边”。
图 12-9-2-1-1 元件检查的说明
12-9-2-2 共面性检查
求出共面的方法有两种。
QFP/SOP可用EIAJ规定的方法或最小平方法求出共面(端子最下面的均匀性)。
■ 出厂时的设置为 EIAJ 规定的方法。
可在机器设置里变更设置。(参见“8-5-10-12 共面检测”)
◇ QFP 用 EIAJED-7401-4，SOP 用 EIAJED-7304-1 或最小平方法。
◇ 球元件用 EIAJED-7304。
◇ EIAJ 规定的方法为，从假定平面到所有端子的最下点的铅垂方向距离的偏差中，到最偏离的端子
最下点的距离为共面的值。
计量基准线
引脚下方向弯曲
检查元件
共线性即平行性。
共线性只能适用于引脚元件。
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◆ 以 3 点法求出引脚元件的共面性(EIAJ 规定的方法：默认)
在通过任意3根端子最下点的几何平面中，其他端子的最下点全部在组件主体侧，组件重心在该3
点所构成的三角形内部或边上的平面。但不受自身重量的影响。
如满足上述条件的组合有多个，则采用共面值大的组合。
图 12-9-2-2-1 用 3 点法计算出共面
◆ 以最小平方法求出引脚元件的共面
在最小平方法中，当运用最小平方法获得的所有端子底点所处平面与距离包装一侧最远的端子的
底点相交时，到此最远终端的距离即定义为共面。
图 12-9-2-2-2 用最小平方法求出共面
◆ 最小平方法中球形元件的共面[日本电子工业协会（EIAJ）管制]
当运用最小平方法获得的所有球形元件顶点所处平面与距离包装一侧最远的球形元件
的顶点相交时，到此最远球形元件的距离即定义为共面。
根据最下方的点求出的平面
用最小平方法求得的平面