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第 2 部 功能详细编 第 9 章 手动控制 9- 20 4) 变幻线(可以选 择左 1 ~左 6 贴片头) 下列 “变幻线 图 (纹条图) ” , 是通过 激光单元测量 (SWEEP) 取得的数据 所显示的元 件轮廓图。 变幻线能显示的 元件有方形芯片 、方形芯片 (L ED) 、圆筒形芯片、 SOT 。 选中控制项目“ 变幻线”时,可 选择“执行 (E) ”按钮,或按 “ F3 ”键进行控制 。 下面具体说明变 幻线有关情况。 表 …

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4)窗口类型
按下按钮,选择测量时窗口类型。
在控制项目中选择“测量(ONCE“测量(SWEEP以外项目时,不能设置。
同时检测元件:设置的窗口尺寸范围,必须可容纳同时测量多个 Head 的元件。
(这些 Head 的吸嘴旋转中心±7.5mm
若要测量比该窗口尺寸更大的大型元件,请指定单独测量元件。
单独检测元件:设置的激光测量的窗口尺寸范围,必须可容纳最大尺寸的元件。
指定测量单独元件时,需要使用其他 Head 的测量领域(窗口)因此,其他 Head
下降到激光的高度时,可能造成测量失败。测量前,必检查,确认其他 Head
没有降到激光测量的高度。
(5) 控制按钮
用控制按钮来执行控制。
控制按钮的显示因控制项目而异
在控制结束时更新状态显示。
1) 真空
控制所选Head真空的开/关。
选中控制项目的“真空”时,选择“开(O)”按钮、“(F)”按钮、“开/()”按钮或按
下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
2) Z 轴调整
对所选HeadZ轴坐标进行控制。
吸嘴吸取元件时使用。
选中控制项目的“Z轴调整”时,选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“上/()”按钮
或按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制
3) Z 轴微调
对所选HeadZ轴坐标进行控制。
将吸取元件移动到激光测量高度等时使用。
选中控制项目的Z轴微调”时,选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“LA()”按钮或
按下“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
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4) 变幻线(可以选择左 1~左 6 贴片头)
下列“变幻线(纹条图)是通过激光单元测量(SWEEP)取得的数据所显示的元件轮廓图。
变幻线能显示的元件有方形芯片、方形芯片(LED)、圆筒形芯片、SOT
选中控制项目“变幻线”时,可选择“执行(E)”按钮,或按F3”键进行控制
下面具体说明变幻线有关情况。
9-4-1-3-2 变幻线示例
变幻线和激光高度
说明
激光高度适当。取得的元件形状正确。取得形状后,激光
传感返回 SWEEP 识别结果。
元件上没有激光面,因得不到任何一个边缘结果,无法描
绘变幻线,画面呈黑色。激光传感 SWEEP 失败,返回信息
为无元件错误。
激光高度在元件下面附近时,有的地方激光面遮盖不全
的,有些边缘数据没有取得,变幻线形状变形,激光传感
SWEEP 识别失败,返回错误信息。
激光高度在元件上面和吸嘴边缘时同上面情况一样
的地方激光面遮盖不全,出现 SWEEP 失败。
激光高度只达到吸嘴尖端而未达到元件时,变幻线显示出
吸嘴尖端的形状
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5)测量(ONCE)
对所选的Head进行激光测量(ONCE)
ONCE具有获得当前传感器拍摄的阴影信息的功能。测量结果显示在“状态”上。
(参见图9-4-1-3-1)
在选中控制项目的“测量(ONCE)”状态下,选择“执行(E)”、或按“F3”键、“F5”键进行
控制。
若是选择LA(3)按钮,会移动到该Head的前端(元件已被吸取时则在元件下面的高度
状态代码详情请参见“程序补充-“激光状态一览表”。
6)测量(SWEEP)
对所选择的Head进行激光测量(SWEEP)
SWEEP具有在检测区域内旋转对象物体,计算出元件的吸取偏移、角度偏移、尺寸的功能。激
光单元根据“元件形状”组合框指定的元件形状,对取得的数据进行分析,计算所测量的结果
测量结果显示在状态中显示。(参见图9-4-1-3-1)
选中控制项目的“测量(SWEEP)”时,选择“执行(E)”按钮、或按下F3”键进行控制。
若是选择“LA (L)”按钮,会移动到该 Head 前端(元件已被吸取时则在元件下面)的高度。
状态代码详情请参见“程序补充-“激光状态一览表
7)图像显示
显示所选Head激光传感器的图像数据。
Head和吸嘴移到激光面上面后再进行操作。
在选中控制项目“图像显示”时,选择“执行(E)”按钮或按下“F3”键控制。
请确认激光水平值分布均匀。
若有急剧下降处,或数值极低的情况,可能是激光脏污,请清扫激光面。否则元件端面遇到
激光水平值下降位置时会导致定心不稳、激光识别错误。
9-4-1-3-3 图像显示例
※激光水平值:受光部接收从发光部发出的光的明亮度用数值 0()255()表示。因此,
有脏污等时水平值会下降。
激光水平值