00195981-03_SM_SWS_DE.pdf - 第399页
15 Kalibrierung 15.4 Kalibrierung des kompletten Wafer-Handling Serviceanleitung SIPLACE Wafer System (SWS) 11/2018 399 Abb.570: ► Die Magazin-Platte sollte nun den Slot-Sensor aktivieren (siehe Abbildungen). ► Die LED …

15 Kalibrierung
15.4 Kalibrierung des kompletten Wafer-Handling
398 Serviceanleitung SIPLACE Wafer System (SWS) 11/2018
15.4.1.2 Magazin-Slot-Scan-Position kalibrieren
Der Slot-Scan-Sensor erkennt für jeden Slot, ob sich ein Wafer-Rahmen im Magazin befindet.
Das Magazin wird gescannt, wenn eine der folgenden Bedingungen zutrifft:
●
Ein neues Magazin ist in den Waferlift eingelegt.
●
Das System wurde initialisiert und ein Magazin befindet sich im Lift.
●
In der Ansicht Products ist Scan magazine ausgewählt.
Abb.568:
► Wählen Sie Calibrate wafer presence sensor, um die Position des Wafer-Vorhanden-Sen-
sors in Bezug auf das Magazin zu kalibrieren.
ð Die Kalibrierreihenfolge läuft automatisch.
ð Die Hub-Achse verfährt, bis die Magazinplatte den Slot-Scan-Sensor aktiviert. Von dieser
Position wird die finale Position für den Slot-Scan-Sensor berechnet.
► Wählen Sie die Registerkarte Positions, um zu prüfen, ob die kalibrierte Position richtig ist.
Abb.569:
► Wählen Sie Go to position neben Slot scan position.

15 Kalibrierung
15.4 Kalibrierung des kompletten Wafer-Handling
Serviceanleitung SIPLACE Wafer System (SWS) 11/2018 399
Abb.570:
► Die Magazin-Platte sollte nun den Slot-Sensor aktivieren (siehe Abbildungen).
► Die LED muss an sein (2).
Abb.571:
► Wenn der Sensor aus ist ((1) in obiger Abbildung), kann die Position der Magazinplatte mit
den Pfeiltasten verfahren werden (siehe in obiger Abbildung).
► Bevor Sie nach oben oder unten verfahren, wählen Sie die Schrittgröße (z.B. 100µm).
► Verfahren Sie die Hub-Achse nach oben, bis die Sensor-LED an ist.
ð Der letzte Schritt, bevor die LED einschaltet, sollte nicht größer als 100µm sein.
► Wenn die korrekte Position gefunden ist, wählen Sie Save neben Slot scan position.
HINWEIS
Wenn Sie 12" Wafer verwenden, biegen sich die Rahmen möglicherweise bis zu 500µm
durch. Wenn Sie auf Probleme beim Wechseln der 12er Wafer stoßen, korrigieren Sie die
Slot-Scan-Position um ca. 500µm nach oben.

15 Kalibrierung
15.4 Kalibrierung des kompletten Wafer-Handling
400 Serviceanleitung SIPLACE Wafer System (SWS) 11/2018
15.4.1.3 Wafer-Übergabeposition des Magazins in Bezug auf den Wafertisch kalibrieren
WARNUNG
► Bevor Sie den Wafertisch manuell verschieben, prüfen Sie die Position der Die-Ejec-
tor-Baugruppe.
► Die Die-Ejector-Baugruppe MUSS in der unteren Position sein, andernfalls kann es
beim manuellen Verschieben des Wafertisches zu schweren Schäden kommen.
Die Wafer transfer position ist die Position der Wafer-Hub-Achse, in der die Schiene des Waferti-
sches (Ebene auf Höhe der Wafer-Rahmen-Unterseite) an der oberen Kante der Magazinplatte
ausgerichtet wird.
Diese Position wird verwendet, um die Slot-Positionen für jeden Magazintyp zu berechnen.
Der Magazintyp wird in der GUI definiert und programmiert (neuen Magazintyp definieren).
Alle Dimensionen, wie Slot-Teilung, Position des ersten Slots und so weiter, sind definiert und wer-
den basierend auf der Wafer-Übergabeposition für die Kalkulation der Slot-Positionen verwendet.
Im Moment gibt es kein automatisches Kalibrierungsmenü.
Abb.572:
► Wählen Sie Go to position Button neben Wafer transfer position.
► Der Magazinlift fährt in die ungefähre Wafer-Übergabeposition.
Abb.573: